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J-GLOBAL ID：200903001476560480

レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置

Inventor： 島岡 治夫
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 河▲崎▼ 眞樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998167334
Publication number (International publication number)：2000002644
Application date： Jun. 15, 1998
Publication date： Jan. 07, 2000
Summary：

【要約】【課題】 被測定粒子群の媒体中での濃度が適正であるか否かを容易に知ることができ、また、媒体中での被測定粒子群の分散(凝集)状態を容易に評価することができ、同種試料の複数回にわたる測定時に、測定条件を一定に揃えることを容易にしたレーザ回折・散乱式粒度分布測定装置を提供する。【解決手段】 基準もしくは参照のための回折・散乱光強度分布データを記憶する記憶手段11と、その記憶されている回折・散乱光強度分布データを、被測定粒子群Pの回折散乱光強度分布の測定データとともに同時に表示する表示手段10を設けることにより、回折・散乱光強度分布データ中に実質的に含まれている被測定粒子群の濃度情報と、分散・凝集状態の情報を、基準(参照)データとの比較により知ることを可能とする。

Claim (excerpt)：

分散状態の被測定粒子群にレーザ光を照射して得られる回折・散乱光の強度分布を測定し、その測定データから被測定粒子群の粒度分布を算出するレーザ回折・散乱式粒度分布測定装置において、基準もしくは参照のための回折・散乱光強度分布データを記憶する記憶手段と、その記憶されている回折・散乱光強度分布データを、被測定粒子群の回折・散乱光の強度分布の測定データとともに同時に表示する表示手段を備えていることを特徴とするレーザ回折・散乱式粒度分布測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 粒度分布測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-158170   Applicant：株式会社島津製作所
• 粒度分布測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-170248   Applicant：株式会社島津製作所