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J-GLOBAL ID：200903001806508618

線分の検出方法

Inventor： 柴田 昌明 ,  庭川 誠
Applicant, Patent owner： 株式会社明電舎
Agent (1)： 光石 俊郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997153401
Publication number (International publication number)：1999003421
Application date： Jun. 11, 1997
Publication date： Jan. 06, 1999
Summary：

【要約】【課題】 ハフ平面を用いた座標変換に当り、処理の高速化、計算機容量の低減化、計算処理の低減化を図る線分の検出方法を目的とする。【解決手段】 画像データにつき縦・横の微分処理をして、微分値の強さと微分点の勾配方向を求め、勾配方向成分を有するエッジ画像を得るものである。

Claim (excerpt)：

画像データにつき縦方向及び横方向の画像微分処理をして各画素ごとの微分値の強さと微分点の勾配方向を求め、この微分値の極大値を有するエッジ点を求め、このエッジ点の微分値の強さからしきい値以上のエッジ点を求め、勾配方向成分を有するエッジ画像を得る手法を備えた線分の検出方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平4-349584
  
• 特開昭61-190680
  
• 特開昭63-188280
  
• 特開昭63-225881