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J-GLOBAL ID：200903002272001098
X線異物検出方法及びX線異物検出装置
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
西村 教光
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002184754
Publication number (International publication number)：2004028768
Application date： Jun. 25, 2002
Publication date： Jan. 29, 2004
Summary：
【課題】パッケージ内の複数種類の被検査物について個別かつ高感度で異物検出を実現する。【解決手段】複数の収納領域A〜Dに区画されているパッケージP及び各収納領域A〜Dにそれぞれ収納されている複数種類の被検査物Wa〜WdにX線を曝射する射工程と、パッケージP及び各被検査物Wa〜Wdを透過してくるX線の透過量に対応するX線強度データを出力する工程と、パッケージP及び各被検査物Wa〜WdのX線画像Ip,Iwa〜Iwdを生成する工程と、X線画像IA〜ID,Iwa〜Iwd毎に領域指定をする工程と、領域指定された各X線画像IA〜ID(Iwa〜Iwd)毎に異物検出閾値Tを設定する工程と、各収納領域毎のX線画像と、各収納領域毎の異物検出閾値と、に基づいて異物判定を実行する工程と、備える。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
複数の収納領域(A〜D)に区画されているパッケージ(P)及び前記各収納領域にそれぞれ収納されている複数種類の被検査物(W)にX線を曝射するX線曝射工程と、
前記X線の曝射に伴って前記パッケージ及び各被検査物を透過してくるX線の透過量に対応するX線強度データ(S)を出力するX線強度データ出力工程と、
前記パッケージ及び各被検査物のX線強度データを画像処理して前記パッケージ及び各被検査物のX線画像(Ip,Iw)を生成するX線画像生成工程と、
前記各収納領域又は各被検査物のX線画像を囲んで、前記各収納領域又は各被検査物のX線画像毎に領域指定をする領域指定工程と、
前記領域指定された各X線画像毎に異物検出閾値(T)を設定する異物検出閾値設定工程と、
前記各収納領域毎のX線画像と、前記各収納領域毎の前記異物検出閾値と、に基づいて異物判定を実行する異物判定工程と、
を備えることを特徴とするX線異物検出方法。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (9)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA07
, 2G001FA06
, 2G001HA07
, 2G001HA13
, 2G001LA01
, 2G001PA11
Cited by examiner (3)
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特開昭63-236989
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介在物検出方法および介在物検出装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平11-364542
Applicant：川崎製鉄株式会社, 理学電機工業株式会社
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異物検査装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2000-155366
Applicant：アンリツ株式会社
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