Pat
J-GLOBAL ID：200903002627221124

分析チップおよび分析装置

Inventor：
飯田 一浩

About 飯田 一浩


Applicant, Patent owner：
日本電気株式会社

About 日本電気株式会社


Agent (1)： 速水 進治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002226750
Publication number (International publication number)：2004069397
Application date： Aug. 02, 2002
Publication date： Mar. 04, 2004
Summary：
【課題】検出・分析のための特別な外部機器を必要とせず、なおかつ検体を適用後、その場で迅速に目視により分析結果が得られる分析チップを提供する。【解決手段】特定成分の存在を検知することができ、かつ発色等により当該特定成分の存在を示すことができる試薬が含有された試薬層107が流路102に備えられた分析チップ100を用いる。試料は試料導入口104から注入され、試薬層107に展開させる。このときの反応の様子をマイクロレンズ103により拡大して観察する。【選択図】 図3
Claim (excerpt)：
試料中に含まれる特定成分の検出を行う分析チップであって、前記試料の通る流路と、該流路の一部に設けられ、前記特定成分と接触すると発色、発光、変色、脱色または消光する検出部と、該検出部に光を照射する第一の照明部材と、を備えることを特徴とする分析チップ。
IPC (7)：
G01N21/77 ,  B81B1/00 ,  G01N21/05 ,  G01N21/64 ,  G01N33/483 ,  G01N33/53 ,  G01N37/00
FI (7)：
G01N21/77 Z ,  B81B1/00 ,  G01N21/05 ,  G01N21/64 F ,  G01N33/483 C ,  G01N33/53 T ,  G01N37/00 101
F-Term (34)：
2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA02 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB19 ,  2G043HA01 ,  2G043LA05 ,  2G045FA11 ,  2G045FA18 ,  2G045FA23 ,  2G045FB03 ,  2G045FB07 ,  2G045FB12 ,  2G045HA13 ,  2G045HA14 ,  2G054EA03 ,  2G054EA05 ,  2G054EA07 ,  2G054FA17 ,  2G054GA04 ,  2G054GA05 ,  2G057AA02 ,  2G057BA05 ,  2G057BB02 ,  2G057BB06 ,  2G057BD04 ,  2G057CA01 ,  2G057DA01 ,  2G057DB01 ,  2G057DB05 ,  2G057DC07
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)
  • 特表平7-500191
  • 光学的測定装置およびその方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-078998   Applicant：ダイキン工業株式会社
  • 呼気分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-043024   Applicant：スズキ株式会社

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM