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J-GLOBAL ID：200903049487706692

光学的測定装置およびその方法

Inventor： 長谷川 雅典 ,  上田 智章 ,  重森 和久 ,  増田 堅司 ,  吉田 雅一 ,  阪本 知己
Applicant, Patent owner： ダイキン工業株式会社
Agent (1)： 津川 友士
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994078998
Publication number (International publication number)：1995120397
Application date： Apr. 18, 1994
Publication date： May. 12, 1995
Summary：

【要約】【目的】 試薬に起因する迷光を低減させて光学的測定のS/N比を高める。【構成】 スラブ型光導波路1と一体的に形成された反応槽2に、励起光および/または蛍光色素が放射する蛍光を吸光する微粒子または水溶性色素を添加した。

Claim (excerpt)：

光導波路(1)内を全反射しながら伝播するように励起光を導入することにより生じるエバネッセント波成分によって光導波路(1)の表面近傍に拘束された蛍光物質を励起し、蛍光物質が放射する蛍光のうち、光導波路(1)内を反射しながら伝播する成分に基づいて光導波路(1)の表面近傍の光学的特性を測定する光学的測定装置であって、光導波路(1)の表面を1の区画面とする反応槽(2)に、蛍光物質の励起波長、発光波長の少なくとも一方の波長の光を吸収する微粒子(9)(19)を添加してあることを特徴とする光学的測定装置。

IPC (3)：

G01N 21/78 ,  G01N 21/64 ,  G01N 33/543 595