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J-GLOBAL ID：200903002661806115

距離測定方法

Inventor： 森 賢一 ,  杉山 治
Applicant, Patent owner： 富士電機デバイステクノロジー株式会社
Agent (1)： 篠部 正治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003050979
Publication number (International publication number)：2004257952
Application date： Feb. 27, 2003
Publication date： Sep. 16, 2004
Summary：

【課題】被写体までの距離を検出するために2つの被写体像信号のずれを求める際、被写体のコントラストが高い場合に視差などにより一方の同一と見なされる部分にのみ端部にエッジノイズ(信号の急激な変化)が生じても、高精度な距離測定を行えるようにする。【解決手段】同一と見なされる部分の像信号について、端部の傾きもしくはその分割領域の像信号の差を比較することによりエッジノイズの有無を判定する。エッジノイズがあると判定された場合は、必要に応じ端部の傾きの絶対値を比較してどちらの被写体像信号を補正すべきかを判断し、端部の像信号を他の像信号を基に補正する。【選択図】 図6

Claim (excerpt)：

被写体から放射または反射される光束のうちの互いに異なる部分の光束を2つのフォトセンサアレイ上にそれぞれ投影し、該各フォトセンサアレイ上に形成される被写体像の相対変位から前記被写体までの距離を求めるために、 前記2つのフォトセンサアレイから出力される2つの被写体像信号より前記フォトセンサアレイのセンサピッチのi(整数)倍の変位量に対する前記2つの被写体像の不一致度を示す尺度f(i)とその最小値を与えるiの値i0を求め、該i0またはこれにフォトセンサピッチを乗じた値、もしくは該i0およびその前後のi0-1,i0-2,i0+1,i0+2に対応する関数値f(i0),f(i0-1),f(i0-2),f(i0+1),f(i0+2)をそれぞれ求めてこれらの値の一部もしくは全部を用いて推定したf(i)の最小値f(x)を与えるxまたはこれにフォトセンサピッチを乗じた値を、前記相対変位とする距離測定方法において、 前記2つの被写体像信号において前記関数値f(i0),f(i0-1),f(i0-2),f(i0+1),f(i0+2)の計算に使われる演算領域のうち、少なくとも前記f(i0)の演算領域における前記2つの被写体像信号を比較し、一方の端部に他方の端部にはないノイズがあるかを判定し、ノイズがあると判定された場合は前記演算領域における端部の被写体像信号の補正を行ってから前記尺度f(i)を再計算して相対変位を求めるようにしたことを特徴とする距離測定方法。

IPC (4)：

G01C3/06 ,  G02B7/28 ,  G02B7/30 ,  G03B13/36

FI (4)：

G01C3/06 V ,  G02B7/11 N ,  G02B7/11 A ,  G03B3/00 A

F-Term (13)：

2F112AC03 ,  2F112BA06 ,  2F112CA02 ,  2F112FA03 ,  2F112FA07 ,  2F112FA33 ,  2H011BA05 ,  2H011BB04 ,  2H051BB07 ,  2H051CB20 ,  2H051CE08 ,  2H051CE18 ,  2H051CE20

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 測距装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-050622   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 特公平7-054371
  
• 測距装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-274695   Applicant：オリンパス光学工業株式会社