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J-GLOBAL ID：200903002686018260

制御対象の応答性の劣化を検出するための装置

Inventor：
井手 博仁

About 井手 博仁


Applicant, Patent owner：
本田技研工業株式会社

About 本田技研工業株式会社


Agent (1)： 特許業務法人オカダ・フシミ・ヒラノ
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008050035
Publication number (International publication number)：2009203965
Application date： Feb. 29, 2008
Publication date： Sep. 10, 2009
Summary：
【課題】制御対象の応答性劣化を検出する。【解決手段】制御対象の応答性劣化を検出するための装置は、制御対象の出力について、第1の出力および該第1の出力とは異なる種類の第2の出力を、第1の実測値および第2の実測値としてそれぞれ検出する。第1の実測値を第1の目標値に収束させるための、該第2の出力の第2の目標値を、非線形制御によって算出する第1の制御器と、第1の制御器の出力に接続されて該第2の目標値を受け取り、該第2の実測値を該第2の目標値に収束させるための操作量を、伝達関数として表現可能な線形制御によって算出する第2の制御器とが備えられる。操作量は制御対象に印加される。さらに、第2の制御器の伝達関数および制御対象の伝達関数を合成した合成伝達関数を第2の目標値に適用することにより得られた値を、第2の出力の推定値として算出し、該推定値と第2の実測値との偏差に基づいて、制御対象の応答性劣化を検出する。【選択図】図5
Claim (excerpt)：
可変に作動可能な制御対象の応答性の劣化を検出するための装置であって、 前記制御対象の出力について、第1の出力および該第1の出力とは異なる種類の第2の出力を、第1の実測値および第2の実測値としてそれぞれ検出する手段と、 前記第1の実測値を第1の目標値に収束させるための、前記第2の出力の第2の目標値を、非線形制御によって算出する第1の制御器と、 前記第1の制御器の出力に接続されて前記第2の目標値を受け取り、前記第2の実測値を該第2の目標値に収束させるための操作量を、伝達関数として表現可能な線形制御によって算出する第2の制御器であって、該操作量は該制御対象に印加される、第2の制御器と、 前記第2の制御器の伝達関数および前記制御対象の伝達関数を合成した合成伝達関数を前記第2の目標値に適用することにより得られた値を、前記第2の出力についての推定値として算出する手段と、 前記推定値と前記第2の実測値との偏差に基づいて、前記制御対象の応答性劣化を検出する手段と、 を備える装置。
IPC (1)：
F02D 13/02
FI (1)：
F02D13/02 G
F-Term (19)：
3G092AA11 ,  3G092DA01 ,  3G092DA02 ,  3G092DA08 ,  3G092EA03 ,  3G092EA04 ,  3G092EA08 ,  3G092EB03 ,  3G092EC01 ,  3G092FA36 ,  3G092FB06 ,  3G092HA01Z ,  3G092HA04Z ,  3G092HA05Z ,  3G092HE00Z ,  3G092HE01Z ,  3G092HE03Z ,  3G092HE04Z ,  3G092HE08Z
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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