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J-GLOBAL ID:200903002815271163

超高密度貴金属ナノ粒子分散コンポジット薄膜を用いたセンサ及びセンサシステム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小越 勇
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008035526
Publication number (International publication number):2008233074
Application date: Feb. 18, 2008
Publication date: Oct. 02, 2008
Summary:
【課題】ナノメートルあるいはそれ以下のスケールでの分子の性質を直接的に測定するためには既存の高度な技術を持ってしても極めて困難であったが、ナノコンポジット薄膜基板を用いることで、人間がアクセスしたり操作したりすることが容易なミクロンスケールからセンチメートルのサイズにまでスケールアップすることが可能となるものであり、使いやすい大きさの分子機能を利用したセンサ・センサシステムを実現することを課題とする。【解決手段】貴金属ナノ粒子が互いに10nm以下の距離で絶縁性物質により隔てられ、かつ該貴金属ナノ粒子の数密度が10000個/μm2以上である超高密度貴金属ナノ粒子分散コンポジット薄膜からなる基板と、該基板上の貴金属ナノ粒子間に形成された導電性分子の電導パスを備えていることを特徴とする超高密度貴金属ナノ粒子分散コンポジット薄膜を用いたセンサ。【選択図】 図7
Claim (excerpt):
貴金属ナノ粒子が互いに10nm以下の距離で絶縁性物質により隔てられ、かつ該貴金属ナノ粒子の数密度が10000個/μm2以上である超高密度貴金属ナノ粒子分散コンポジット薄膜からなる基板と、該基板上の貴金属ナノ粒子間に形成された導電性分子の電導パスを備えていることを特徴とする超高密度貴金属ナノ粒子分散コンポジット薄膜を用いたセンサ。
IPC (3):
G01N 27/04 ,  G01N 21/65 ,  G01N 21/64
FI (3):
G01N27/04 A ,  G01N21/65 ,  G01N21/64 F
F-Term (9):
2G043AA01 ,  2G043EA01 ,  2G043EA03 ,  2G043GA07 ,  2G043KA09 ,  2G060AA01 ,  2G060AB02 ,  2G060AF02 ,  2G060AF07
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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