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J-GLOBAL ID：200903002818618946

微量元素測定方法、微量元素測定装置及び毛髪試料作成治具

Inventor： 高辻 俊宏 ,  中村 剛 ,  星 正治 ,  遠藤 暁 ,  田中 憲一 ,  小田 績 ,  絹川 直子 ,  山田 知美
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 長崎大学 ,  国立大学法人広島大学
Agent (2)： 角田 芳末 ,  伊藤 仁恭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007093942
Publication number (International publication number)：2008249627
Application date： Mar. 30, 2007
Publication date： Oct. 16, 2008
Summary：

【課題】多数の試料の微量元素測定を可能にし、かつ時間短縮して精度よく測定できるようにしたPIXEによる微量元素測定方法及び微量元素測定装置を提供するものである。【解決手段】ヘリウムガスが導入された気密容器32内に、被測定試料と標準試料を含む複数の試料を2次元に配列した試料群33を2次元面内で可動可能に配置し、試料を順次測定位置に移動させて荷電粒子照射部39から同一条件の荷電粒子34を照射し、試料から放射される特性X線を検出器35により検知し、標準試料の元素濃度と比較して被測定試料に含まれる微量元素の濃度を測定する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

ヘリウムガスが導入された気密容器内に、被測定試料と標準試料を含む複数の試料を2次元に配列した試料群を2次元面内で移動可能に配置し、 前記試料を順次測定位置に移動させて同一条件の荷電粒子を照射し、前記試料から放射される特性X線を検知し、 前記標準試料の元素濃度と比較して前記被測定試料に含まれる微量元素の濃度を測定する ことを特徴とする微量元素測定方法。

IPC (1)：

G01N 23/225

FI (1)：

G01N23/225

F-Term (12)：

2G001AA03 ,  2G001BA05 ,  2G001CA01 ,  2G001DA03 ,  2G001GA01 ,  2G001HA03 ,  2G001KA01 ,  2G001LA01 ,  2G001MA10 ,  2G001NA18 ,  2G001PA11 ,  2G001QA01