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J-GLOBAL ID：200903002819877635

排ガス測定装置及びその標準試料発生器

Inventor：
立花 幸治

About 立花 幸治

, 
阪本 将三

About 阪本 将三

, 
橋本 宏明

About 橋本 宏明


Applicant, Patent owner：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

About 株式会社日立ハイテクノロジーズ


Agent (1)： 小川 勝男 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002011105
Publication number (International publication number)：2003215102
Application date： Jan. 21, 2002
Publication date： Jul. 30, 2003
Summary：
【要約】【課題】連続して排ガスを導入しながら、測定物質を任意に切替えて排ガス中に含まれるクロロフェノール類、クロロベンゼン類などを連続して測定する。【解決手段】予め排ガス中の測定する成分に合わせて条件設定部12を設け、測定物質の切り替えに合わせて、条件切替部14が前処理部200の各機器の温度、流量を変更し、質量分析装置部100の質量分析制御、データ処理、濃度演算処理、出力処理の条件を変更し、切替タイマ16に設定された測定条件の切り替えが安定するのに必要な時間を経て測定を開始する。
Claim (excerpt)：
排ガスを導入するための前処理部と、前記排ガス中の測定物質をイオン化するイオン源、前記イオン源で生成された測定物質のイオンを質量分析する質量分析部、前記質量分析の結果を処理するデータ処理部、前記データ処理部の測定データから測定物質の濃度を検出する濃度演算処理部を含む質量分析装置部を備える排ガス測定装置において、予め、測定物質毎に前記前処理部及び前記質量分析装置部の測定条件を設定しておき、被測定物質に応じて前記前処理部及び前記質量分析装置部の各機器の測定条件を切り替える条件設定切替部を設けたことを特徴とする排ガス測定装置。
IPC (5)：
G01N 27/62 ZAB ,  G01N 27/62 ,  G01N 1/00 102 ,  G01N 1/22 ,  G01N 33/00
FI (5)：
G01N 27/62 ZAB V ,  G01N 27/62 D ,  G01N 1/00 102 D ,  G01N 1/22 D ,  G01N 33/00 D
F-Term (21)：
2G052AA02 ,  2G052AB11 ,  2G052AB12 ,  2G052AC25 ,  2G052AD03 ,  2G052AD04 ,  2G052AD42 ,  2G052BA03 ,  2G052BA14 ,  2G052EA03 ,  2G052EB01 ,  2G052EB12 ,  2G052EB13 ,  2G052GA24 ,  2G052HA15 ,  2G052HA17 ,  2G052HC06 ,  2G052HC22 ,  2G052HC28 ,  2G052HC38 ,  2G052JA07
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (3)

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