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J-GLOBAL ID:200903043152454542
試料分析用モニタ装置及びそれを用いた燃焼制御システム
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小川 勝男 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999329277
Publication number (International publication number):2001147216
Application date: Nov. 19, 1999
Publication date: May. 29, 2001
Summary:
【要約】【課題】本発明は、既知濃度の標準試料を測定対象のガスに添加することにより、夾雑物成分の影響によりイオン化効率が変化してしまうことに加えて、前処理部・配管によって吸着してしまう測定対象試料の濃度を高精度に、かつリアルタイムで計測可能なモニタ装置および方法提供するものである。【解決手段】イオン化効率の変化および蒸気圧等の物性値が測定対象試料と同程度の既知濃度の標準試料を添加しながら測定する。測定対象試料と添加した標準試料のイオン強度を比較することにより、測定対象試料の濃度を較正する。【効果】本発明によれば、多様な夾雑物質を含むガス中における測定対象物質の濃度を時々刻々補正しながら、オンラインでリアルタイムの高精度な測定をすることができる。
Claim (excerpt):
測定物質を導入する手段と、該測定物質をイオン化するイオン源と、生成された該測定物質に関するイオンを質量分析する質量分析部と、該質量分析の結果を処理するデータ処理部とを具備して、該測定物質を定量する試料分析用モニタ装置において、定量するための標準物質を前記測定物質導入手段に導入する手段を具備してなることを特徴とする試料分析用モニタ装置。
IPC (5):
G01N 27/62
, G01N 27/62 ZAB
, F23G 5/50 ZAB
, G01N 1/00 102
, H01J 49/04
FI (5):
G01N 27/62 F
, G01N 27/62 ZAB V
, F23G 5/50 ZAB N
, G01N 1/00 102 D
, H01J 49/04
F-Term (8):
3K062AA24
, 3K062AB01
, 3K062AC19
, 3K062AC20
, 3K062CA00
, 3K062CB08
, 5C038EE01
, 5C038EF02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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排ガス中の微量有機化合物の測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-050231
Applicant:日本鋼管株式会社
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質量分析型ガス漏れ検知器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-287861
Applicant:日本電信電話株式会社
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特開平2-245656
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分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-109016
Applicant:株式会社日立製作所
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質量分析方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-301740
Applicant:株式会社日立製作所
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高周波誘導結合プラズマ質量分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-207393
Applicant:株式会社島津製作所
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特開昭63-026571
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