電子スピン共鳴状態測定装置および測定方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：小森久夫 , 小澤壯夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003381086
Publication number (International publication number)：2005147693
Application date： Nov. 11, 2003
Publication date： Jun. 09, 2005
Summary：

【課題】小型、且つ小電力でオーバーハウザー効果を利用して電子スピン共鳴状態を測定できるようにする。【解決手段】円筒形の永久磁石12とこの周面に非磁性体13a、13bを介して対向配置された一対のヨーク14a、14bとで磁場発生手段を構成し、モータ15によって、永久磁石12の回転角度を制御する。第1段階で静磁場Aにおける磁束密度とRFコイル16の高周波磁場周波数をそれぞれB1、f1に制御して電子スピン共鳴状態を生成する。第2段階で静磁場Aにおける磁束密度とRFコイル16の高周波磁場周波数をそれぞれB2(>B1)、f2(<f1)に制御して核スピン共鳴状態を生成し、前記電子スピン共鳴状態を、第2段階で前記核スピン共鳴状態に変換させて間接的に測定する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

測定対象に対して静磁場を永久磁石により与える磁場発生手段と、前記永久磁石の磁極の位置を変更することにより前記静磁場の磁束密度を制御する磁場制御手段と、測定対象に対して第1段階と第2段階でそれぞれ異なった周波数の高周波磁場を与える電磁波発生手段とを備え、前記磁場制御手段は、第1段階で磁束密度をB1に、第2段階でB2に制御し、前記電磁波発生手段は、第1段階で電磁波の周波数をf1に、第2段階でf2に制御し、第1段階で生じた測定対象内における電子スピン共鳴状態を、第2段階で核スピン共鳴状態に変換させて間接的に測定することを特徴とする、電子スピン共鳴状態測定装置。

IPC (3)：

G01N24/10 , G01N24/12 , G01R33/60

FI (3)：

G01N24/10 510Z , G01N24/12 510L , G01N24/10 520Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

常磁性体の溶液中の分布を表わすイメージを取得する方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平6-505131 Applicant：ブリティッシュ・テクノロジー・グループ・リミテッド
可変磁場型磁気回路
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-185382 Applicant：信越化学工業株式会社
永久磁石可変磁場発生装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-111101 Applicant：信越化学工業株式会社

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