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J-GLOBAL ID:200903003120134161
光学式ピンホール検査装置およびその方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
岩橋 文雄
, 坂口 智康
, 内藤 浩樹
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004148668
Publication number (International publication number):2005331312
Application date: May. 19, 2004
Publication date: Dec. 02, 2005
Summary:
【課題】一画素サイズ以下の微細なピンホールを検出できる特徴を持ち、シート全面に対して安価にかつ高速に微細なピンホールを検出する光学式ピンホール検査装置を提供することを目的とするものである。【解決手段】CCD10を内蔵したCCDカメラ1と、CCDカメラ1に取り付けるレンズ2と、被検査シート9に対しCCDカメラ1と反対側に配置した所定光量を発光する透過照明3とから構成され、ピンホール9bの通過光3bを、ピンホール9b以外の透過光3dや反射光3eに比べ非常に強くし、一画素の面積サイズより小さいピンホール9bの通過光3bで一画素以上を明るく写した画像を得る。【選択図】図1
Claim (excerpt):
画像スケールで一画素の面積サイズを検出対象のピンホールの面積サイズより大きくしたCCDカメラと、上記CCDカメラに取り付けるレンズと、被検査シートに対し上記CCDカメラと反対側に配置した所定光量を発光する透過照明とから構成された光学式ピンホール検査装置。
IPC (3):
G01N21/894
, G01N21/956
, H05K3/00
FI (3):
G01N21/894 Z
, G01N21/956 B
, H05K3/00 Q
F-Term (9):
2G051AA65
, 2G051AA90
, 2G051AB04
, 2G051BB01
, 2G051BB07
, 2G051CA04
, 2G051CB02
, 2G051CC07
, 2G051EA16
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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ピンホール検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-029805
Applicant:株式会社コパル
Cited by examiner (12)
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特開平1-092878
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ピンホール検査方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-131606
Applicant:株式会社ニコン
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特開昭63-164441
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スルーホール基板の製造方法およびスルーホール検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-059428
Applicant:茨城県, 株式会社白土プリント配線製作所
-
特開昭61-256237
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アナログ表示装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-273319
Applicant:スリーエムイノベイティブプロパティズカンパニー
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特開平1-092878
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特開昭63-164441
-
特開昭61-256237
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フイルムの欠点検出装置およびフイルムの製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-168304
Applicant:東レ株式会社
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フィルムシート欠陥検査方法及びフィルムシート欠陥検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-186526
Applicant:旭化成工業株式会社
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特開平4-309849
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