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J-GLOBAL ID：200903003121247601
X線CT装置およびX線断層像撮影方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
有近 紳志郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994208347
Publication number (International publication number)：1995116157
Application date： Sep. 01, 1994
Publication date： May. 09, 1995
Summary：
【要約】【目的】 X線管の温度によるフォーカス位置の変化を高精度に補正する。【構成】 実スキャンより前に、フォーカス位置温度特性取得部9によりX線管2の温度Tとフォーカス位置Sの変化特性を測定し、得られたフォーカス位置温度特性をフォーカス位置温度特性記憶部10に記憶しておく。実スキャン時には、フォーカスエラー値付与部11は、X線管温度取得部4で取得したX線管2の温度Txに対するフォーカスエラー値δxを前記フォーカス位置温度特性を基に取得し、それをフォーカスエラー値δとして画像再構成部7のフォーカスエラー補正手段に与える。【効果】 画像上のエリアシング・アーチファクトを抑制できる。
Claim (excerpt)：
被検体を透過して検出されたX線データを温度変化によるフォーカスエラー値δに基づいて補正するフォーカスエラー補正手段を有するX線CT装置において、X線管の低温時の温度Tcおよびフォーカス位置ScとX線管の高温時の温度Thおよびフォーカス位置Shとを少なくとも測定してX線管の温度Tに対するフォーカス位置Sの特性を取得するフォーカス位置温度特性取得手段と、前記フォーカス位置温度特性を記憶するフォーカス位置温度特性記憶手段と、実スキャン時のX線管の温度Txを取得するX線管温度取得手段と、前記記憶したフォーカス位置温度特性に基づいて実スキャン時の温度Txに対応するフォーカスエラー値δxを取得し前記フォーカスエラー補正手段にフォーカスエラー値δとして与えるフォーカスエラー値付与手段とを具備したことを特徴とするX線CT装置。
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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