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J-GLOBAL ID：200903003252331217

ガス濃度連続分析装置

Inventor： 松久 浩明 ,  小桜 優 ,  中森 明興 ,  角 心吾 ,  荒谷 克彦
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 西岡 義明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993072499
Publication number (International publication number)：1994281607
Application date： Mar. 30, 1993
Publication date： Oct. 07, 1994
Summary：

【要約】【目的】 複数のガス濃度測定装置の分析装置により、試料ガス中の複数の成分の濃度を測定しても、簡単に応答時間を一致させることができ、補正演算値や比較データ等の信頼性を高められるようにする。【構成】 ガス濃度連続分析装置10は、検出部1、CPU2、記憶部3、出力部4、入力部5等で構成され、外部分析装置6にスパンガスが導入されてからスパンガス濃度の所定値(通常はフルスケールの90%)に達するまでの応答時間を計測し、検出部1においてもスパンガスが導入されてからスパンガス濃度の所定値(通常はフルスケールの90%)に達するまでの応答時間を計測し、この2つの応答時間を測定データの移動平均計算によって一致させる。

Claim (excerpt)：

試料ガス中の目的成分を連続的に測定するガス濃度連続分析装置において、外部のガス濃度分析装置の校正ガス導入時からの測定信号を取り込む入力部と、入力された測定値を記憶する記憶部とを備え、外部のガス濃度分析装置の校正ガス導入時から所定の指示値に達するまでの応答時間と、内部のガス濃度分析装置の校正ガス導入時から所定の指示値に達するまでの応答時間との差を基準として測定データの移動平均を行うことにより、前記2つの応答時間が一致するようにしたことを特徴とするガス濃度連続分析装置。

IPC (3)：

G01N 27/00 ,  G01N 1/00 ,  G01N 27/26 381

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• シートベルト巻取装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-184675   Applicant：タカタ株式会社
• 特開平1-141147
  
• 特開昭56-031763