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J-GLOBAL ID：200903003538479289

光計測装置

Inventor： 田村 守 ,  山田 幸生 ,  土屋 裕 ,  小田 一郎
Applicant, Patent owner： 経済産業省産業技術総合研究所長 ,  技術研究組合医療福祉機器研究所
Agent (2)： 竹本 松司 (外1名) ,  竹本 松司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999316534
Publication number (International publication number)：2001133396
Application date： Nov. 08, 1999
Publication date： May. 18, 2001
Summary：

【要約】【課題】 被検体の散乱吸収の内部分布を、内部の散乱・吸収状態や、送光部と受光部との間の距離による影響を受けずに求める。【解決手段】 被検体1に光を送光する送光手段2と被検体からの透過光を受光する受光手段3との複数の組み合わせと、被検体を透過した透過光の光強度信号を検出する光信号強度検出手段4と、透過光の送受光手段間における平均光路長による規格化によって光強度信号を補正し、吸収状態にのみに依存する光強度信号を得る光信号補正手段5と、送受光手段の配列と補正された光強度信号とに基づく演算により被検体の内部分布を求める内部分布演算手段6とを備える。平均光路長を用いて光強度信号を規格化して、内部の散乱・吸収状態や、送光部と受光部との間の距離による影響を補正し、吸収状態にのみに依存する光強度信号を求め、送受光手段の配列に応じた処理を行って被検体の内部分布を求める。

Claim (excerpt)：

被検体に光を送光する送光手段と被検体からの透過光を受光する受光手段との複数の組み合わせと、被検体を透過した透過光の光強度信号を検出する光信号強度検出手段と、前記透過光の送受光手段間における平均光路長による除算によって光強度信号を補正し、吸収状態にのみに依存する光強度信号を得る光信号補正手段と、送受光手段の配列と補正された光強度信号とに基づく演算により被検体の内部分布を求める内部分布演算手段とを備える、光計測装置。

IPC (2)：

G01N 21/17 ,  A61B 10/00

FI (2)：

A61B 10/00 E ,  G01N 21/17 620

F-Term (13)：

2G059AA01 ,  2G059BB12 ,  2G059CC18 ,  2G059EE01 ,  2G059EE11 ,  2G059FF01 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM10 ,  2G059MM14

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 光断層イメージング装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-062303   Applicant：浜松ホトニクス株式会社