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J-GLOBAL ID：200903003900716081
試料ステージ及びそれを用いた粒径計測装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
岩橋 祐司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998103354
Publication number (International publication number)：1999281543
Application date： Mar. 30, 1998
Publication date： Oct. 15, 1999
Summary：
【要約】【課題】 本発明の目的は被測定面の上下位置が所定の位置よりずれた場合であってもそれを正確に再調整することが容易にできる試料ステージを提供することにある。【解決手段】 板128を被測定面に対し直角方向へ移動可能な直角移動手段148と、該被測定面よりの反射光L3を受光し、該受光位置より被測定面の仮位置情報を得る位置検出手段142と、該反射光L3を受光し、該受光位置より被測定面の角度情報を得る角度検出手段144と、該検出手段144で得た角度情報と所定の角度情報を比較し、誤差なしでは該位置情報を真の位置情報とし、誤差ありでは該誤差に基づき該位置情報を校正し真の位置情報とする位置決定手段138と、該決定手段138で得た位置情報が所定の位置となるように該移動手段148により板128を移動させるステージ制御手段138と、を備えたことを特徴とする試料ステージ118。
Claim (excerpt)：
試料を保持する試料保持板を、試料の被測定面に対し平行方向へ移動可能な平行移動手段を備えた試料ステージにおいて、前記試料保持板を被測定面に対し直角方向へ移動可能な直角移動手段と、前記被測定面よりの反射光を受光し、該反射光の受光位置より被測定面の仮の位置情報を得るための位置検出手段と、前記反射光を受光し、該反射光の受光位置より被測定面の角度情報を得るための角度検出手段と、前記角度検出手段で得た角度情報と所定の角度情報とを比較し、誤差なしと判断したときは、前記位置検出手段で得た位置情報をそのまま真の位置情報とし、また誤差ありと判断したときは、該誤差に基づいて前記位置検出手段で得た位置情報を校正して真の位置情報とする位置決定手段と、前記位置決定手段で得た位置情報が所定の位置となるように、前記直角移動手段により試料保持板を移動させるステージ制御手段と、を備えたことを特徴とする試料ステージ。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 1/28 W
, G01N 15/14 P
