Pat
J-GLOBAL ID：200903003963393908

サンプル中のリガンドの分析方法及びサンプル中のリガンドを分析する装置

Inventor：
岡村 大輔

About 岡村 大輔


Applicant, Patent owner：
松下電器産業株式会社

About 松下電器産業株式会社


Agent (3)： 岩橋 文雄 ,  坂口 智康 ,  内藤 浩樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005147877
Publication number (International publication number)：2006322878
Application date： May. 20, 2005
Publication date： Nov. 30, 2006
Summary：
【課題】非特異吸着物質の影響を低減し、かつ高精度なリガンドの分析方法を提供する。【解決手段】サンプルの分析方法において、リガンドを含むサンプルをそのリガンド特異的にレセプターと結合させる反応にて生じた非特異吸着物質を、外部振動を印加する事により、分離及び除去し、非特異吸着物質の分離及び除去により生じた変化を表面プラズモン共鳴角の安定した幅として検出することで、非特異吸着物質の分離及び除去の達成を確認できる事を特徴としたサンプル中のリガンドの分析方法。【選択図】図3
Claim (excerpt)：
リガンドを含むサンプルと、前記リガンドと特異的に結合しうるレセプターがその片面上に固定され、その裏面に光学プリズムが配置された、表面プラズモン共鳴を起しうる金属薄膜と、計測光を照射する照射手段と、前記計測光の反射光を受光する受光手段と、前記レセプターと結合したリガンドを分析する分析手段とを準備し、前記サンプルと前記金属薄膜とを接触させて前記サンプル中の前記リガンドを前記レセプターに結合させ、前記照射手段により、前記金属薄膜の前記レセプターが固定された面と逆の面に、計測光を照射し、前記受光手段により、前記金属薄膜の面上で反射された前記計測光の反射光を受光し、前記分析手段により、前記反射光から、前記金属薄膜近傍の誘電率の変化により生じた表面プラズモン共鳴角の変化を検出する、サンプル中の前記リガンドの分析方法であって、前記レセプターが固定された領域に外部振動を印加する印加手段を準備し、前記外部振動を印加することにより、前記リガンドと前記レセプターとの特異吸着を分離することなく、非特異吸着物質のみを分離及び除去が達成されたことを、前記受光手段から検出した信号成分である前記表面プラズモン共鳴角の振動幅の変化として検出することを特徴としたサンプル中のリガンドの分析方法。
IPC (2)：
G01N 21/27 ,  G01N 33/543
FI (2)：
G01N21/27 C ,  G01N33/543 595
F-Term (17)：
2G059BB04 ,  2G059CC17 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059FF05 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059MM03 ,  2G059MM04 ,  2G059MM09 ,  2G059NN01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM