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J-GLOBAL ID：200903004013936227

硬さ試験機

Inventor： 小島 光司 ,  林 浩孝
Applicant, Patent owner： 株式会社アカシ
Agent (1)： 荒船 博司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998191823
Publication number (International publication number)：2000028505
Application date： Jul. 07, 1998
Publication date： Jan. 28, 2000
Summary：

【要約】【課題】 微小なくぼみであっても、正確に観察、測定することができる硬さ試験機を提供する。【解決手段】 試料Sに圧子11を押し付けることによって形成されるくぼみから硬さを測定し、前記くぼみを観察可能な光学システムを備える硬さ試験機1において、前記くぼみの表面をプローブ18によって走査可能であるプローブ顕微鏡17を備えている。

Claim (excerpt)：

試料に圧子を押し付けることによって形成されるくぼみから、前記試料の硬さを測定し、前記くぼみを観察可能な光学顕微鏡を備える硬さ試験機において、前記くぼみの表面を探針によって走査可能であるプローブ顕微鏡を備えることを特徴とする硬さ試験機。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 微小硬度測定法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-016025   Applicant：金沢憲一, 株式会社島津製作所
• 表面物性評価装置および表面物性評価装置の試料位置補正方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-354294   Applicant：株式会社ニコン