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J-GLOBAL ID：200903004111163457

因果関係モデル生成方法および因果関係モデル生成装置および因果システムモデル構成装置および原因推定方法および原因推定装置およびプログラムおよび記録媒体

Inventor：
木治 潤一

About 木治 潤一


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (1)： 鈴江 武彦 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001099969
Publication number (International publication number)：2002297387
Application date： Mar. 30, 2001
Publication date： Oct. 11, 2002
Summary：
【要約】【課題】故障診断のための人の理解し易いデータ構造のデータベースの構築が容易に行え、信頼性のある明確な診断結果を得ることができる因果関係モデル生成方法および装置を提供する。【解決手段】観測対象の注目事象とその原因となる原因事象との間の因果関係モデルを生成するものであって、同一とみなす前記注目事象を要素とする結果の集合と、この結果の集合の各要素の原因事象を要素とする原因の集合とを生成して、前記結果の集合と前記原因の集合とを対応付けるとともに、前記結果の集合に、他の注目事象の原因事象となる要素が存在するとき、該結果の集合と、前記他の注目事象の属する結果の集合に対応付けられた原因の集合とを対応付ける。
Claim (excerpt)：
観測対象の注目事象とその原因となる原因事象との間の因果関係を生成する因果関係モデル生成方法であって、同一とみなす前記注目事象を要素とする結果の集合と、この結果の集合の各要素の原因事象を要素とする原因の集合とを生成して、前記結果の集合と前記原因の集合とを対応付けることを特徴とする因果関係モデル生成方法。
IPC (4)：
G06F 9/44 580 ,  G06F 9/44 550 ,  G06F 17/30 170 ,  G06F 17/30 210
FI (4)：
G06F 9/44 580 A ,  G06F 9/44 550 H ,  G06F 17/30 170 Z ,  G06F 17/30 210 D
F-Term (4)：
5B075NR02 ,  5B075NR05 ,  5B075NR12 ,  5B075UU40
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)
  • 知識ベースおよびその構築装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-347932   Applicant：株式会社リコー
  • 故障診断装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-059570   Applicant：富士重工業株式会社

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