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J-GLOBAL ID：200903004379423842

基板異常検出システム

Inventor： 五十嵐 光彦
Applicant, Patent owner： セイコーエプソン株式会社
Agent (5)： 小林 久夫 ,  安島 清 ,  佐々木 宗治 ,  大村 昇 ,  高梨 範夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004064453
Publication number (International publication number)：2005252189
Application date： Mar. 08, 2004
Publication date： Sep. 15, 2005
Summary：

【課題】 電子デバイス及びCPUが実装された基板の異常の有無を検出することを可能にした基板異常検出システムを提供する。【解決手段】 半導体回路を含んだ電子デバイス22〜24とCPU21とを少なくとも備えた電子基板20を起動させるとともに、その電子基板20の駆動が正常になされているかどうかの検査情報をCPU21から採取する検査用パソコン10と、検査用パソコン10により採取された検査情報が当該電子基板及び前記電子デバイスと関連付けて格納される管理データベース41とを備えたものである。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

半導体回路を含んだ電子デバイスとCPUとを少なくとも備えた電子基板を起動させるとともに、その電子基板の駆動が正常になされているかどうかの検査情報を前記CPUから採取する検査用情報処理装置と、 前記検査用情報処理装置により採取された検査情報が当該電子基板及び前記電子デバイスと関連付けて格納される管理データベースと を備えた基板異常検出システム。

IPC (2)：

H05K13/08 ,  G01R31/28

FI (2)：

H05K13/08 D ,  G01R31/28 H

F-Term (6)：

2G132AA03 ,  2G132AA20 ,  2G132AB01 ,  2G132AE18 ,  2G132AE23 ,  2G132AL00

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 遊技機
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-332880   Applicant：有限会社愛和ライト