Pat
J-GLOBAL ID:200903004594305010
断層撮影イメージングシステム用の標準測定プロトコルの作成方法、コンピュータプログラム製品および断層撮影イメージングシステム内に実際対象物の撮像範囲を位置決めする計画方法
Inventor:
,
,
,
,
,
,
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
山口 巖
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004307138
Publication number (International publication number):2005125099
Application date: Oct. 21, 2004
Publication date: May. 19, 2005
Summary:
【課題】手動によるスライス再位置合わせを回避する。【解決手段】オペレータが対話することができるコンピュータ支援インターフェースで、標準対象物の計画表示を表示するステップと、前記表示された計画表示と前記インターフェースを介して対話することにより、前記計画表示における標準撮像範囲の、前記標準対象物に関する空間位置を規定するステップと、前記標準撮像範囲と、前記標準対象物を指定する参照とに関係したパラメータを備える標準測定プロトコルを生成および保管するステップとが行なわれる。【選択図】図1
Claim (excerpt):
オペレータが対話することができるコンピュータ支援インターフェースで、標準対象物の計画表示を表示するステップと、
前記表示された計画表示と前記インターフェースを介して対話することにより、前記計画表示における標準撮像範囲の、前記標準対象物に関する空間位置を規定するステップと、
前記標準撮像範囲と前記標準対象物を指定する参照とに関係したパラメータを備える標準測定プロトコルを生成および保管するステップと
を有することを特徴とする断層撮影イメージングシステム用の標準測定プロトコルの作成方法。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (8):
4C096AB37
, 4C096AB39
, 4C096AD07
, 4C096AD15
, 4C096BB12
, 4C096BB25
, 4C096DD08
, 4C096DD11
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
-
米国特許第6195409号明細書
-
国際公開第02/43003号パンフレット
-
国際公開第02/098292号パンフレット
-
国際公開第01/59708号パンフレット
Show all
Cited by examiner (4)