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J-GLOBAL ID：200903005179622626

微細物体の操作装置および操作方法

Inventor：
畑瀬 貴之

About 畑瀬 貴之


Applicant, Patent owner：
松下電器産業株式会社

About 松下電器産業株式会社


Agent (1)： 岩橋 文雄 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999041335
Publication number (International publication number)：2000241310
Application date： Feb. 19, 1999
Publication date： Sep. 08, 2000
Summary：
【要約】【課題】 複数の微細物体を光学的トラップにより同時に捕捉することができる低コストの微細物体の操作装置および操作方法を提供すること。【解決手段】 複数の微細物体3を光学的トラップにより同時に捕捉する微細物体の操作装置において、単一のレーザ出力部8によって照射されたレーザ光を光学系6によって集光し単一のガルバノスキャナ7によって走査させて操作対象の微細物体3に照射してこの微細物体を捕捉する光学的トラップ手段と、この光学的トラップ手段によって複数の微細物体を時分割により同時並行的に捕捉するべくレーザ出力制御部9およびガルバノスキャナ駆動部10を制御するマルチトラップ制御部11とを備えた。これにより、精密・高価なレーザ照射系や走査・光学系の設備費用を抑制して、低コスト設備によって効率よい微細物体の操作を行うことができる。
Claim (excerpt)：
単一のレーザ光照射手段によって照射されたレーザ光を光学系によって集光し単一のレーザ光走査手段によって走査させて操作対象の微細物体に照射してこの微細物体を捕捉する光学的トラップ手段と、この光学的トラップ手段によって複数の微細物体を時分割により同時並行的に捕捉するべく前記光学的トラップ手段を制御するマルチトラップ制御手段とを備えたことを特徴とする微細物体の操作装置。
IPC (3)：
G01N 1/02 ,  C12M 1/00 ,  G02B 21/32
FI (3)：
G01N 1/02 A ,  C12M 1/00 A ,  G02B 21/32
F-Term (7)：
2H052AC34 ,  2H052AF19 ,  2H052AF22 ,  4B029AA23 ,  4B029AA25 ,  4B029BB01 ,  4B029CC01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (13)
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Cited by examiner (3)

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