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J-GLOBAL ID：200903005210472735

光学顕微鏡

Inventor： 池滝 慶記 ,  藤井 正明
Applicant, Patent owner： 科学技術振興事業団 ,  オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 西澤 利夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996302232
Publication number (International publication number)：1998142151
Application date： Nov. 13, 1996
Publication date： May. 29, 1998
Summary：

【要約】【課題】 第2励起状態からの発光収率が小さい分子に対しても、非常に高い空間分解能で、優れた画質の発光像を得ることができる、高性能且つ高機能な、新しい光学顕微鏡を提供する。【解決手段】 試料を構成する基底状態の分子を第1励起状態へ励起させる波長λ1光の光源と、第1励起状態の分子を第2励起状態へ励起させる波長λ2光の光源と、波長λ1光と波長λ2光とを試料に集光させる集光光学系と、試料からの発光を検出器に集光させる発光検出光学系とを有し、各励起状態に励起された分子が基底状態へ脱励起する際の発光を検出器により検出する光学顕微鏡であって、波長λ1光の照射領域と波長λ2光の照射領域とを一部分重ね合わせる重ね手段を備え、この重ね手段を通して波長λ1光と波長λ2光とを試料に照射することにより、第1励起状態から基底状態へ脱励起する際の発光の領域を抑制する。

Claim (excerpt)：

試料を構成する基底状態の分子を第1励起状態へ励起させる波長λ1光の光源と、第1励起状態の分子を第2励起状態へ励起させる波長λ2光の光源と、波長λ1光と波長λ2光とを試料に集光させる集光光学系と、試料からの発光を検出器に集光させる発光検出光学系とを有し、各励起状態に励起された分子が基底状態へ脱励起する際の発光を検出器により検出する光学顕微鏡であって、波長λ1光の照射領域と波長λ2光の照射領域とを一部分重ね合わせる重ね手段を備え、この重ね手段を通して波長λ1光と波長λ2光とを試料に照射することにより、第1励起状態から基底状態へ脱励起する際の発光の領域を抑制することを特徴とする光学顕微鏡。

IPC (3)：

G01N 21/64 ,  G02B 21/00 ,  G02B 21/06

FI (3)：

G01N 21/64 E ,  G02B 21/00 ,  G02B 21/06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 多波長光光学顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-329165   Applicant：新技術事業団, 池滝慶記
• レーザ走査式細胞分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-292506   Applicant：オムロン株式会社