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J-GLOBAL ID：200903005276871053

電子-電子-イオンコインシデンス分光器、電子-電子-イオンコインシデンス分光法、電子-電子コインシデンス分光法及び電子-イオンコインシデンス分光法

Inventor：
間瀬 一彦

About 間瀬 一彦

, 
小林 英一

About 小林 英一

, 
南部 英

About 南部 英


Applicant, Patent owner：
大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構

About 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構


Agent (5)： 杉村 興作 ,  徳永 博 ,  藤谷 史朗 ,  来間 清志 ,  冨田 和幸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005161509
Publication number (International publication number)：2006339002
Application date： Jun. 01, 2005
Publication date： Dec. 14, 2006
Summary：
【課題】 簡易かつ廉価に、電子-電子-イオンコインシデンス分光、電子-電子コインシデンス分光及び電子-イオンコインシデンス分光を高効率で測定し得る新規な電子-電子-イオンコインシデンス分光器と、電子-電子-イオンコインシデンス分光法、電子-電子コインシデンス分光法及び電子-イオンコインシデンス分光法とを提供する。【解決手段】 同軸対称形状外電極22、同軸対称形状内電極21、ピンホール23、電子検出器24及び補助電飾25を含む同軸対称鏡電子エネルギー分析器20内に、円筒形状外電極32、円筒形状内電極31、ピンホール33及び電子検出器34を含む円筒鏡電子エネルギー分析器30を配置し、円筒鏡電子エネルギー分析器30内に、イオン加速電極41、イオンドリフト電極42及びイオン検出器43を含む飛行時間型イオン質量分析器40を配置して、電子-電子-イオンコインシデンス分光器10を構成する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
同軸対称形状外電極と、この同軸対称形状外電極の内側に中心軸を合わせて配置された同軸対称形状内電極と、前記同軸対称形状外電極及び前記同軸対称形状内電極の後方において、これら電極の中心軸上に配置されたピンホール及び電子検出器とを含む同軸対称鏡電子エネルギー分析器と、 前記同軸対称鏡電子エネルギー分析器の前記同軸対称形状内電極内に配置された円筒形状外電極と、前記円筒形状外電極の内側に中心軸を合わせて配置された円筒形状内電極と、前記円筒形状外電極及び前記円筒形状内電極の後方において、これら電極の中心軸上に配置されたピンホール及び電子検出器とを含む円筒鏡電子エネルギー分析器と、 前記円筒鏡電子エネルギー分析器の前記円筒形状内電極内に配置されたイオン加速電極と、前記イオン加速電極の後方の中心軸上に配置されたイオンドリフト電極と、前記イオンドリフト電極の後方の中心軸上に配置されたイオン検出器とを含む飛行時間型イオン質量分析器と、 を具えることを特徴とする、電子-電子-イオンコインシデンス分光器。
IPC (5)：
H01J 49/44 ,  G01N 23/227 ,  G01N 27/62 ,  G01N 27/64 ,  H01J 49/40
FI (5)：
H01J49/44 ,  G01N23/227 ,  G01N27/62 K ,  G01N27/64 A ,  H01J49/40
F-Term (12)：
2G001AA01 ,  2G001AA03 ,  2G001AA05 ,  2G001BA07 ,  2G001CA03 ,  2G001CA05 ,  2G001EA02 ,  2G041CA01 ,  2G041DA12 ,  2G041GA06 ,  2G041HA05 ,  5C038KK08
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (8)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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