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J-GLOBAL ID:200903005296107147

電動機の制御装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 作田 康夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001112137
Publication number (International publication number):2002315386
Application date: Apr. 11, 2001
Publication date: Oct. 25, 2002
Summary:
【要約】【課題】電動機の動作領域全域で高応答,高精度,高効率に電動機の回転子磁極位置を推定することができる電動機の制御装置の提供を課題とする。【解決手段】上記課題を解決するために、インバータ3から同期電動機1に印加される電圧をPWM信号によって制御する制御装置4に、PWMの搬送波に同期して検出される同期電動機1の電流検出値に基づいて磁極位置を推定する搬送波同期型磁極位置推定手段9と、同期電動機1の同電位状態を利用した磁極位置推定手段10と、前記2種類の磁極位置推定手段を切換える磁極位置切換手段20とを備えた。
Claim (excerpt):
電力変換器から交流電動機に印加される電圧をPWM信号によって制御するものであって、少なくとも二つの異なる磁極位置推定方法で前記交流電動機の回転子磁極位置を推定すると共に、前記交流電動機の動作領域全域で前記少なくとも二つの磁極位置推定方法を前記交流電動機の動作状態に応じて切換え、前記交流電動機の回転子磁極位置を推定することを特徴とする電動機の制御装置。
IPC (9):
H02P 6/18 ,  B60L 9/18 ,  B60L 11/14 ZHV ,  H02P 6/12 ,  H02P 7/36 303 ,  H02P 7/36 ,  H02P 7/63 303 ,  H02P 21/00 ,  B60K 6/02
FI (9):
B60L 9/18 J ,  B60L 11/14 ZHV ,  H02P 7/36 303 S ,  H02P 7/36 303 U ,  H02P 7/63 303 V ,  H02P 6/02 371 S ,  H02P 5/408 C ,  H02P 6/02 351 P ,  B60K 9/00 C
F-Term (74):
5H115PA05 ,  5H115PC06 ,  5H115PG04 ,  5H115PI16 ,  5H115PI29 ,  5H115PU10 ,  5H115PU11 ,  5H115PU23 ,  5H115PU25 ,  5H115PV09 ,  5H115QN03 ,  5H115QN09 ,  5H115RB22 ,  5H115RB26 ,  5H115SE03 ,  5H115SJ11 ,  5H115TB10 ,  5H115TD20 ,  5H115TO12 ,  5H115TR07 ,  5H560AA08 ,  5H560BB04 ,  5H560BB17 ,  5H560DA12 ,  5H560DA18 ,  5H560DB12 ,  5H560DC12 ,  5H560EB01 ,  5H560EC01 ,  5H560EC10 ,  5H560ED07 ,  5H560HA03 ,  5H560HA09 ,  5H560JJ01 ,  5H560RR10 ,  5H560SS02 ,  5H560TT15 ,  5H560XA02 ,  5H560XA08 ,  5H560XA12 ,  5H560XA13 ,  5H560XB09 ,  5H575AA17 ,  5H575BB09 ,  5H575BB10 ,  5H575DD06 ,  5H575DD10 ,  5H575GG04 ,  5H575GG07 ,  5H575HB20 ,  5H575JJ03 ,  5H575JJ04 ,  5H575JJ16 ,  5H575LL12 ,  5H575LL22 ,  5H575LL31 ,  5H575MM01 ,  5H576AA15 ,  5H576BB09 ,  5H576BB10 ,  5H576CC04 ,  5H576DD07 ,  5H576EE01 ,  5H576EE11 ,  5H576GG04 ,  5H576HB01 ,  5H576JJ03 ,  5H576JJ04 ,  5H576JJ16 ,  5H576LL13 ,  5H576LL22 ,  5H576LL41 ,  5H576LL60 ,  5H576MM01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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