Pat

J-GLOBAL ID：200903005414934363

濁度測定方法および濁度測定器

Inventor： 池田 英幸 ,  渡邊 靖 ,  森本 清 ,  昼田 了
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所 ,  協和醗酵工業株式会社
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997290342
Publication number (International publication number)：1999108838
Application date： Oct. 06, 1997
Publication date： Apr. 23, 1999
Summary：

【要約】【課題】 散乱光の影響を受けにくくして高精度な濁度の測定ができる濁度測定器を提供する。【解決手段】 測定対象物4を透過した光束をフーリエ変換レンズ5で光検出器6の受光面に集光させ、その集光面積と前記光検出器6の受光面積とを等しく設定することにより、受光される散乱光量を極減した状態の下に透過光強度を検出し、その検出値に基づいて前記測定対象4の濁度を求める。

Claim (excerpt)：

測定対象物を透過した光束をフーリエ変換レンズで光検出器の受光面に集光させ、前記光検出器の受光面積をその集光面積と等しいか又はそれより小さく設定することにより、受光される散乱光量を極減した状態の下に透過光強度を検出し、その検出値に基づいて前記測定対象物の濁度を求めることを特徴とする濁度測定方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 透過光測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-033543   Applicant：株式会社生体光情報研究所, 丹野直弘, 市村勉
• 特開昭63-173938