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J-GLOBAL ID：200903005434091060
分光測光法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
落合 健 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1995523311
Publication number (International publication number)：1997511574
Application date： Mar. 09, 1995
Publication date： Nov. 18, 1997
Summary：
【要約】分光測光分析におけるキュベットとしてのサンプル収集装置が開示される。この該装置は、サンプル液を毛管作用により吸引するのに充分に小さな寸法の単数或いは複数のキャビティを有し、該キャビティの表面は断面が略方形で前記キャビティの壁部を形成する透明な固体プレートであり、前記キャビティの反対側の表面は、断面が略方形で前記キャビティの壁部を形成する追加構造体であり、前記プレートの一部には反射性コーティングが施され、前記追加構造体の一部は反射性である
Claim (excerpt)：
分光測光分析におけるキュベットとして使用するサンプル収集装置であって、該装置は、サンプル液を毛管作用により吸引するのに充分に小さな寸法の単数或いは複数のキャビティを有し、該キャビティの表面は断面が略方形で前記キャビティの壁部を形成する透明な固体プレートであり、前記キャビティの反対側の表面は、断面が略方形で前記キャビティの壁部を形成する追加構造体であり、前記プレートの一部には反射性コーティングが施され、前記追加構造体の一部は反射性である、サンプル収集装置。
IPC (6)：
G01N 21/03
, B01L 11/00
, G01N 1/00 101
, G01N 21/11
, G01N 21/27
, G01N 21/75
G01N 21/03 Z
, B01L 11/00
, G01N 1/00 101 H
, G01N 21/11
, G01N 21/27 Z
, G01N 21/75 Z
Cited by examiner (6)
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