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J-GLOBAL ID:200903005978152241

製品内の異物を検出する装置および方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 森田 順之 (外1名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2001523846
Publication number (International publication number):2003509689
Application date: Sep. 14, 2000
Publication date: Mar. 11, 2003
Summary:
【要約】本発明は、製品内の異物又は製品内の材料特性及び内容物の変化を検出する装置に関し、この装置は異なる周波数の少なくとも2つの信号からなるマイクロ波レンジの電磁信号を送信する第1アンテナと、製品を介して少なくとも一部が通過する第1アンテナから送られた信号を受信する第2信号と、前記受信信号の少なくとも前記振幅情報と位相情報を各々別々の周波数に対して、パラメータ値を得るように測定する手段と、各パラメータ値を前記送信信号の対応する振幅情報と位相情報と比較し、前記別々の周波数の各々に対して比較値を比較する手段と、前記装置が入手し得る参照値に基づいて各比較値を分析する手段と、前記比較値が前記参照値から所定量異なるときに信号を発信する手段とからなる。本発明はさらに製品中の異物を検出する方法に関する。さらに本発明は、上記装置を使用した方法に関する。
Claim (excerpt):
マイクロ波レンジ内の異なる周波数(f1-f5)の少なくとも二つの信号からなる電磁信号(13’)を送信するための第1アンテナ(11)と、 前記第1アンテナ(11)から発信された信号(13”)を受信するための第2アンテナ(12)とからなり、前記受信信号(13”)が少なくとも部分的に製品(1)を通過する前記製品内の異物を検出するための装置(10)において、 各信号(13’、13”)が振幅情報と位相情報とを含み、さらに、 前記受信信号(13”)の少なくとも前記振幅情報と位相情報を各々別々の周波数(f1-f5)に対して、パラメータ値を得るように測定する手段(16)と、 各パラメータ値を前記送信信号(13’)の対応する振幅情報と位相情報と比較し、前記別々の周波数(f1-f5)の各々に対して比較値を比較する手段(14)と、 前記装置が入手し得る参照値に基づいて各比較値を分析する手段(14)と、 前記比較値が前記参照値から所定量異なるときに信号を発信する手段と、を具備することを特徴とする検出装置。
IPC (2):
G01N 22/02 ,  G01N 22/00
FI (3):
G01N 22/02 B ,  G01N 22/00 W ,  G01N 22/00 X
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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