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J-GLOBAL ID:200903007132592330

3次元画像検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 松浦 孝
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999322218
Publication number (International publication number):2001145128
Application date: Nov. 12, 1999
Publication date: May. 25, 2001
Summary:
【要約】【課題】 被写体までの距離に対応する信号を画素毎に画像データとして検出する3次元画像検出装置において、検出された画像データの中から目的とする被写体のデータのみを抽出する。【解決手段】 被写体に測距光を照射して、その反射光をCCDで受光し、その受光量から被写体までの距離情報を画素毎に検出し、3次元画像として画像メモリに記憶する(ステップ202)。この3次元画像の各画素に微分マスクを施し、被写体の輪郭線が強調された微分処理画像を得る(ステップ203)。輪郭線により分割された領域にラベリング処理を行い、各領域毎に平均距離A(i)を算出する(ステップ206)。平均距離A(i)が最も遠い領域im と、平均距離がこの距離に近い領域を背景として検出する(ステップ206〜211)。背景以外の領域のデータのみを抽出してポリゴンデータを作成する(ステップ213以下)。
Claim (excerpt):
各画素値が被写体までの距離情報に対応した3次元画像を検出する3次元画像検出手段と、前記3次元画像の一部の領域を選択するために、前記距離情報に基づいて前記3次元画像を複数の領域に分割する画像領域分割手段と前記画像領域分割手段により前記3次元画像を複数の領域に分割し、分割された前記各領域の平均距離に対応する前記各領域の画素値の平均値に基づいて、分割された前記領域の中から1つまたは複数の領域を選択する領域選択手段とを備えることを特徴とする3次元画像検出装置。
IPC (5):
H04N 13/04 ,  G01B 11/00 ,  G01S 17/88 ,  G06T 7/00 ,  H04N 7/18
FI (7):
H04N 13/04 ,  G01B 11/00 H ,  H04N 7/18 C ,  H04N 7/18 K ,  G01S 17/88 ,  G06F 15/62 415 ,  G06F 15/70 330 Z
F-Term (69):
2F065AA04 ,  2F065AA12 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD11 ,  2F065EE05 ,  2F065FF12 ,  2F065FF32 ,  2F065FF33 ,  2F065FF42 ,  2F065GG06 ,  2F065GG12 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ18 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL30 ,  2F065QQ05 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ32 ,  2F065QQ36 ,  2F065QQ37 ,  2F065QQ42 ,  2F065SS13 ,  2F065UU05 ,  5B057BA11 ,  5B057CE09 ,  5B057DA08 ,  5B057DA16 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC14 ,  5B057DC22 ,  5C054AA01 ,  5C054AA05 ,  5C054CA06 ,  5C054CC02 ,  5C054EA01 ,  5C054EA05 ,  5C054EA07 ,  5C054ED13 ,  5C054FA02 ,  5C054FC14 ,  5C054FC15 ,  5C054GA04 ,  5C054GB15 ,  5C054HA05 ,  5C061AB03 ,  5C061AB06 ,  5C061AB08 ,  5C061AB17 ,  5J084AD01 ,  5J084BA04 ,  5J084BA36 ,  5J084BB02 ,  5J084CA03 ,  5J084CA61 ,  5J084CA67 ,  5J084EA04 ,  5L096AA09 ,  5L096EA35 ,  5L096FA06 ,  5L096FA66 ,  5L096GA03 ,  5L096GA10 ,  5L096GA13 ,  5L096GA34
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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