眼屈折力測定装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003430787
Publication number (International publication number)：2005185523
Application date： Dec. 25, 2003
Publication date： Jul. 14, 2005
Summary：

【課題】簡単な構成で、小瞳孔の被検眼の測定にも精度良く対応できるようにする。【解決手段】被検眼眼底にスポット状の光束を投光する投光光学系と眼底からの反射光を瞳孔の周辺部から取り出して受光素子に受光させる受光光学系とを含む測定光学系と、受光素子の出力に基づいて眼屈折力を得る演算手段と、測定光学系の光路に配置され、かつ瞳孔と共役位置から外れた位置に配置された光束偏向部材と、光束偏向部材を測定光学系の測定光軸の回りに回転する回転手段と、を備える。測定光学系は前記投光光学系と前記受光光学系とが共用する共用光路を含み、光束偏向部材はその共用部分に配置されている。または、光束偏向部材は投光光学系と受光光学系のそれぞれに配置されており、回転手段は投光光学系と受光光学系に配置された前記光束偏向部材を、それぞれの測定光軸の回りに同期して回転する。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

被検眼眼底にスポット状の光束を投光する投光光学系と眼底からの反射光を瞳孔の周辺部から取り出して受光素子に受光させる受光光学系とを含む測定光学系と、前記受光素子の出力に基づいて眼屈折力を得る演算手段と、前記測定光学系の光路に配置され、かつ瞳孔と共役位置から外れた位置に配置された光束偏向部材と、該光束偏向部材を前記測定光学系の測定光軸の回りに回転する回転手段と、を備えることを特徴とする眼屈折力測定装置。

IPC (1)：

A61B3/10

FI (1)：

A61B3/10 M

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

オートレフラクトメータ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-202655 Applicant：キヤノン株式会社
眼光学特性測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-166767 Applicant：株式会社トプコン
特開平1-097435

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Cited by examiner (4)

眼光学特性測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-166767 Applicant：株式会社トプコン
特開平1-097435
眼屈折力測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-172716 Applicant：株式会社トプコン

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