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J-GLOBAL ID：200903083201212578

眼光学特性測定装置

Inventor： 竹内 楽 ,  中澤 直樹 ,  渋谷 雅博 ,  小林 克彦
Applicant, Patent owner： 株式会社トプコン
Agent (1)： 和泉 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000166767
Publication number (International publication number)：2001340299
Application date： Jun. 02, 2000
Publication date： Dec. 11, 2001
Summary：

【要約】[目的] 本発明は、被検眼眼底に投影された測定用ターゲット像の光量分布特性を検出し、その光量分布特性から眼光学特性を測定するための装置を提供することを目的とする。[構成] 本発明は、投影光学系が、光源部を有し光源部からの光束により被検眼眼底に測定ターゲットを投影し、受光光学系が、被検眼眼底からの反射光束を集光し、光電検出器が、受光光学系により形成された像の光量分布特性を検出し、演算部が、光電検出器からの信号に基づき被検眼の眼光学特性を測定し、投影光学系と受光光学系の両光路内に入射する光束を偏向するための偏向光学部材が、回転可能に配置されている。

Claim (excerpt)：

光源部を有し該光源部からの光束により被検眼眼底に測定ターゲットを投影するための投影光学系と、被検眼眼底からの反射光束を集光するための受光光学系と、前記受光光学系により形成された像の光量分布特性を検出するための光電検出器と、該光電検出器からの信号に基づき被検眼の眼光学特性を演算するための演算部とを備えた眼光学特性測定装置において、前記投影光学系と前記受光光学系の両光路内に入射する光束を偏向するための偏向光学部材を回転可能に配置したことを特徴とする眼光学特性測定装置。

FI (2)：

A61B 3/10 N ,  A61B 3/10 R

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 光学特性測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-042940   Applicant：株式会社トプコン
• レーザ顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-072503   Applicant：ソニー株式会社
• 特開平4-096728
  
• 眼屈折計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-151372   Applicant：キヤノン株式会社