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J-GLOBAL ID:200903007345187103

薄膜構造、及び薄膜構造形成方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 中島 淳 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995095119
Publication number (International publication number):1995301822
Application date: Apr. 20, 1995
Publication date: Nov. 14, 1995
Summary:
【要約】【目的】 モリブデンとクロミウムから成る導電ラインによって十分なエッチング適性と導電性が付与される薄膜構造を提供する。【構成】 PVDを使用して第1と第2のサブレイヤを生成し、それらを合わせてモリブデン-クロミウム層を形成する。リソグラフィを実行してマスク材料のパターンを生成する。エッチングを実施して、マスク材料のパターンで被覆されてない領域を除去し、パターン被覆された部分のモリブデン-クロミウム層では、モリブデンとクロミウムを含む導電ラインを形成する。さらにエッチングによって、導電ライン上にテーパ状エッジを生成し、導電ラインからマスク材料のパターンを除去する。
Claim (excerpt):
表面を有する基板と、該基板の表面に形成される薄膜構造と、を有する製品において、モリブデン-クロミウムを含む導電ラインを有する薄膜構造。
IPC (3):
G02F 1/136 ,  H01L 21/3205 ,  H01L 29/786
FI (2):
H01L 21/88 R ,  H01L 29/78 612 C
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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