Pat
J-GLOBAL ID:200903007555661584
超音波診断装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
秋田 収喜
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001185842
Publication number (International publication number):2003000593
Application date: Jun. 20, 2001
Publication date: Jan. 07, 2003
Summary:
【要約】【課題】 生体に対して穿刺用カプラを動かさないで視野を変える。穿刺針を生体に刺したままでも、超音波探触子と穿刺用カプラを生体から離す。【解決手段】 生体と超音波探触子との間にその超音波探触子を所定位置に移動可能に装着される穿刺用カプラと、該超音波探触子の移動位置を検出する超音波探触子位置検出手段と、該検出された移動位置に伴って穿刺ガイドラインを移動表示させる手段とを備えた超音波診断装置である。また、前記穿刺用カプラに前記穿刺針を通過させる貫通孔溝を設けたものである。
Claim (excerpt):
生体と超音波探触子との間にその超音波探触子を所定位置に移動可能に装着される穿刺用カプラと、該超音波探触子の移動位置を検出する超音波探触子位置検出手段と、該検出された移動位置に伴って穿刺ガイドラインを移動表示させる手段とを備えたことを特徴とする超音波診断装置。
IPC (2):
A61B 8/00
, A61B 17/34 310
FI (2):
A61B 8/00
, A61B 17/34 310
F-Term (7):
4C060FF35
, 4C301EE13
, 4C301EE19
, 4C301EE20
, 4C301FF19
, 4C301GD02
, 4C301KK27
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
-
特表昭60-500561
-
特開昭61-064235
-
駆動方法及びインクジェット式印字ヘッド
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-001924
Applicant:セイコーエプソン株式会社
-
穿刺具
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-258104
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
穿刺超音波プローブ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-060027
Applicant:富士写真光機株式会社
-
超音波スキャナ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-150072
Applicant:ジーイー横河メディカルシステム株式会社
Show all
Return to Previous Page