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J-GLOBAL ID:200903007614752742

測光装置およびその非線形性補正方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 小谷 悦司 ,  植木 久一 ,  伊藤 孝夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003392456
Publication number (International publication number):2005156242
Application date: Nov. 21, 2003
Publication date: Jun. 16, 2005
Summary:
【課題】 分光輝度計や分光測色計などとして実現される測光装置において、特別な設備を必要とせず、高精度かつ効率的に非線形性を補正する。【解決手段】 受光センサアレイ22に光照射を行う補正用LED24を設け、演算制御回路20は、それを少なくとも照度割合が既知の複数の照度レベルで順次点灯させつつ、各照度レベルで期待されるセンサ出力レベルと、実際のセンサ出力レベルとに基づいて、その各照度レベルにおける補正値を求め、実際の測光時には、センサ出力レベルを対応する補正値で補正して、測定出力とする。したがって、光電流を増幅するアンプのゲインの切換えに伴って生じる入出力特性の不連続性や、光センサの光電変換特性の飽和などの光センサやアンプの指数関数的な特性による前記非線形性をベンチなどの大掛かりな構成を用いることなく、補正することができる。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
被測定光の照度レベルを測定する測光装置において、 光センサに光照射を行うための1または複数の補正用照明手段と、 補正時には、前記補正用照明手段を、少なくとも照度割合が既知の複数の照度レベルで順次点灯させつつ、各照度レベルで期待されるセンサ出力レベルと、実際のセンサ出力レベルとに基づいて、その各照度レベルにおける補正値を求め、実際の測光時には、センサ出力レベルを対応する補正値で補正して、測定出力とする演算制御手段とを含むことを特徴とする測光装置。
IPC (4):
G01J1/42 ,  G01J1/44 ,  G01J3/02 ,  G01J3/18
FI (4):
G01J1/42 J ,  G01J1/44 E ,  G01J3/02 C ,  G01J3/18
F-Term (13):
2G020CC05 ,  2G065AA03 ,  2G065AA04 ,  2G065AB28 ,  2G065BA09 ,  2G065BA33 ,  2G065BA34 ,  2G065BB15 ,  2G065BB28 ,  2G065BB42 ,  2G065BC03 ,  2G065BC18 ,  2G065DA01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 照度校正システム
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2000-370725   Applicant:応用電機株式会社, 株式会社北辰光器
Cited by examiner (2)
  • シンチレ-ションカメラ
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-101379   Applicant:株式会社東芝
  • 特公平5-081849

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