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J-GLOBAL ID:200903007764495497
アルミニウムなどにおける非金属介在物などの測定方法およびこれに用いる測定装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
鈴木 学
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003167310
Publication number (International publication number):2005003510
Application date: Jun. 12, 2003
Publication date: Jan. 06, 2005
Summary:
【課題】現場などにおいてリアルタイムで容易且つ正確に測定できるアルミニウムなどにおける非金属介在物などの測定方法およびこれに用いる測定装置を提供する。【解決手段】破断面hを有するアルミニウムなどのサンプルSを係る破断面hを上向きにして配置するテーブルTと、係るテーブルTの上方に位置し断面ほぼ半円形で且つ下向きの凹形反射面2を有する反射ドームDと、係る反射ドームDの凹形反射面2の内側縁に沿って配置された発光ダイオード(光源)4と、上記反射ドームDの頂部付近に明けた開口部6の上方に配置したCCDカメラ(撮像手段)10と、係るカメラ10で撮像された画像をカラー濃淡処理し且つ所定のしきい値により2値化処理などを行うコンピュータ(演算手段)14と、を含む、アルミニウムなどにおける非金属介在物などの測定装置1。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
破断面を有するアルミニウムなどのサンプルをテーブル上に係る破断面を上向きにして配置するステップと、
上記テーブルの上方から断面ほぼ半円形の凹形反射面を介して間接照明を上記破断面に照射するステップと、
上記間接照明の光により照らされた上記破断面をCCDカメラなどの撮像手段で撮像するステップと、
上記撮像手段で撮像された画像をカラー濃淡処理し且つ所定のしきい値により2値化処理するステップと、含む、
ことを特徴とするアルミニウムなどにおける非金属介在物などの測定方法。
IPC (2):
FI (4):
G01N33/20 J
, G01N33/20 K
, G01N33/20 M
, G01N21/88 Z
F-Term (24):
2G051AA90
, 2G051AB02
, 2G051AB20
, 2G051BA20
, 2G051BB03
, 2G051BB11
, 2G051CA04
, 2G051CB05
, 2G051DA05
, 2G051EA11
, 2G051EA14
, 2G051EA17
, 2G051ED09
, 2G055AA03
, 2G055AA04
, 2G055AA05
, 2G055BA05
, 2G055BA06
, 2G055BA20
, 2G055CA21
, 2G055DA08
, 2G055EA08
, 2G055EA10
, 2G055FA02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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特開平4-296640
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結晶粒径測定方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-024910
Applicant:住友金属工業株式会社
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表面検査方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-239501
Applicant:ソニー株式会社
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カラー画像の変換方法、変換装置、及び記録媒体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-011030
Applicant:株式会社キーエンス
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帯状シート検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-306650
Applicant:株式会社ロゼフテクノロジー
-
特開平3-269242
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Article cited by the Patent:
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