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J-GLOBAL ID：200903007796709561

転がり軸受の異常診断装置

Inventor： 飯田 彰 ,  野田 万朶
Applicant, Patent owner： 日本精工株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998316235
Publication number (International publication number)：2000146762
Application date： Nov. 06, 1998
Publication date： May. 26, 2000
Summary：

【要約】【課題】転がり軸受の異常の原因を特定できるとともに、設置に要するスペースを抑制することができる転がり軸受の異常診断装置を提供する。【解決手段】異常診断装置1は外輪3と内輪4と転動体5とを備えた転がり軸受2の異常の有無の判定及び異常があった場合に原因を特定する装置である。異常診断装置1はマイクロホン10と増幅器11と電子機器12などを備えている。マイクロホン10は増幅器11を介して電子機器12と接続している。電子機器12はトランスジューサ21とHDD22と異常診断部23とを備えている。トランスジューサ21はマイクロホン10が収集した音をデジタル変換する。HDD22はデジタル変換された音情報を記録する。異常診断部23は音情報に周波数解析とエンベロープ処理後に周波数解析とを施すとともに音情報に基いて波高率を計算して転がり軸受2の異常の有無の判定及び異常の原因の特定を行う。

Claim (excerpt)：

外輪と、内輪または軸体と、これら外輪と内輪または軸体とに転接自在に設けられた転動体と、を備えた転がり軸受を、前記外輪と、内輪または軸体と、のうち少くとも一方を回転させながら、転がり軸受の異常を診断する装置であって、前記転がり軸受が発生する音を収集するデータ収集部と、前記データ収集部が収集した音をデジタル変換する変換部と、この変換部によってデジタル変換された音情報を記録する記録部と、前記デジタル変換された音情報に、周波数解析とエンベロープ処理と波高率計算とを施し、これらの処理の結果に基いて転がり軸受の異常を診断する異常診断部と、を備えた電子機器と、を備えたことを特徴とする転がり軸受の異常診断装置。

IPC (2)：

G01M 13/04 ,  G01H 17/00

FI (2)：

G01M 13/04 ,  G01H 17/00 C

F-Term (9)：

2G024AC01 ,  2G024BA11 ,  2G024BA15 ,  2G024BA27 ,  2G024CA13 ,  2G064AA17 ,  2G064AB13 ,  2G064CC41 ,  2G064DD16

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 軸受け異常予知装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-040580   Applicant：高砂熱学工業株式会社
• 異常診断装置および方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-170573   Applicant：高砂熱学工業株式会社
• 特開昭62-032327
  
• 特公平5-043980