半導体レーザの長距離伝送評価方法及び評価装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：鈴木章夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994027482
Publication number (International publication number)：1995221370
Application date： Jan. 31, 1994
Publication date： Aug. 18, 1995
Summary：

【要約】【目的】半導体レーザを-40〜+85°Cのホスタイル環境で使用する際の光ファイバによる長距離伝送の評価を、簡易な評価装置でかつ高精度に行うことを可能とする。【構成】温度制御装置11内に設置された半導体レーザモジュール12からの光信号を光ファイバ100により伝送し、受信部のエラー検出器19においてエラー検出を行う。光信号の伝送路の一部に、半導体レーザの所定温度における発振波長の近傍の透過帯域を有する光学フィルタ101を介挿することにより、発振波長外での確率的な発振を生じたビットをカットすることができ、長距離の光ファイバを用いなくとも高い精度の評価が可能となり、評価装置の小型化も可能となる。

Claim (excerpt)：

半導体レーザから出力される光信号を光ファイバを通して受信側に伝送し、受信側では伝送された光信号のエラーを検出して半導体レーザの長距離伝送評価を行う評価方法において、前記光信号を前記半導体レーザの所定の動作温度における発振波長近傍の帯域のみに制限することを特徴とする半導体レーザの長距離伝送評価方法。

IPC (3)：

H01S 3/00 , G01M 11/00 , H01S 3/18

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

特開平4-042590
特開平3-025989
特開昭64-039788

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