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J-GLOBAL ID:200903008151002605
土壌検査方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
神崎 真一郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006204223
Publication number (International publication number):2008032450
Application date: Jul. 27, 2006
Publication date: Feb. 14, 2008
Summary:
【解決手段】 土壌に検査光を照射するとともに土壌からの反射光を取得して該反射光のスペクトルを検出する土壌検査方法に関する。本発明においては、図6に示すように移動位置(測定位置)毎に測定したスペクトルを表示して、移動位置の変化に対するスペクトルの変化を表示させるようになっている。上記反射光の強度は、反射光の強度の大きさに応じて色分けされていることが好ましい。【効果】 広大な検査範囲を検査すれば種々の異なったスペクトルが得られることになるが、異なったスペクトルが得られた地点ごとに実際に土壌を採取すればよいので、最小限の地点における土壌の採取と分析とによって、広大な検査範囲の全域に亘る土壌の特性を高精度に分析することが可能となる。また土壌の分析以前にも、簡易的に圃場の特性を把握して、圃場を評価することが可能となる。【選択図】 図6
Claim (excerpt):
土壌に検査光を照射するとともに土壌からの反射光を取得する検出手段と、該検出手段を移動させる移動手段とを備え、所定の検査範囲内を移動しながら反射光を取得して該反射光のスペクトルを検出する土壌検査方法において、
上記移動手段による検出手段の移動位置を検出するとともに当該移動位置のスペクトルを検出し、各移動位置毎にそれぞれのスペクトルを表示して、移動位置の変化に対するスペクトルの変化を表示させることを特徴とする土壌検査方法。
IPC (2):
FI (3):
G01N21/27 B
, G01N33/24 D
, G01N21/27 A
F-Term (11):
2G059AA05
, 2G059BB09
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059FF01
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059JJ05
, 2G059JJ17
, 2G059KK04
, 2G059PP04
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
土壌分析方法及び土壌分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-215518
Applicant:国立大学法人東京農工大学, シブヤマシナリー株式会社
Cited by examiner (2)
-
分光分析装置、分光分析方法、およびプログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-351691
Applicant:セイコーエプソン株式会社
-
精密農業用の土壌特性測定装置とシステム
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2000-604663
Applicant:財団法人熊本テクノポリス財団, オムロン株式会社
Article cited by the Patent:
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