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J-GLOBAL ID：200903062819675121

分光分析装置、分光分析方法、およびプログラム

Inventor：
小川原 綾子

About 小川原 綾子


Applicant, Patent owner：
セイコーエプソン株式会社

About セイコーエプソン株式会社


Agent (2)： 布施 行夫 ,  大渕 美千栄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004351691
Publication number (International publication number)：2006162348
Application date： Dec. 03, 2004
Publication date： Jun. 22, 2006
Summary：
【課題】 広範囲において精度良く短時間で、分光法による分光分析を行うことのできる分光分析装置、分光分析方法、およびコンピュータ用のプログラムを提供する。【解決手段】 本発明にかかる分光分析装置1000は、分光法により試料のスペクトルを測定する分光分析装置であって、試料のスペクトルを測定する測定部100と、試料300において、少なくとも、第1の測定領域と、前記第1の測定領域の一部を含む第2の測定領域とを前記測定部に測定させる測定制御部10と、少なくとも、前記第1の測定領域を測定した測定値と、前記第2の測定領域を測定した測定値とに基づいて、前記第1の測定領域と前記第2の測定領域との共通領域の測定結果を算出する算出部18と、を含む。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
分光法により試料のスペクトルを測定する分光分析装置であって、 試料のスペクトルを測定する測定部と、 試料において、少なくとも、第1の測定領域と、前記第1の測定領域の一部を含む第2の測定領域とを前記測定部に測定させる測定制御部と、 少なくとも、前記第1の測定領域を測定した測定値と、前記第2の測定領域を測定した測定値とに基づいて、前記第1の測定領域と前記第2の測定領域との共通領域の測定結果を算出する算出部と、 を含む、分光分析装置。
IPC (2)：
G01N 21/27 ,  G01N 21/35
FI (3)：
G01N21/27 A ,  G01N21/27 E ,  G01N21/35 Z
F-Term (10)：
2G059AA01 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059FF03 ,  2G059HH01 ,  2G059KK03 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059PP04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • パラジウム・銀合金めっき浴
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-171382   Applicant：日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース株式会社
Cited by examiner (5)
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