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J-GLOBAL ID：200903008188130140

検査用照明装置

Inventor：
増村 茂樹

About 増村 茂樹

, 
米田 賢治

About 米田 賢治

, 
杉田 隆

About 杉田 隆


Applicant, Patent owner：
シーシーエス株式会社

About シーシーエス株式会社


Agent (1)： 柳野 隆生
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001352453
Publication number (International publication number)：2003202294
Application date： Nov. 16, 2001
Publication date： Jul. 18, 2003
Summary：
【要約】【課題】 暗くなる箇所が発生することなく、どの箇所においても均等に照らすことができる表面検査用照明装置を提供する点にある。【解決手段】 多数の発光体が線状に配置された線状光源14の光照射側に集光手段16を配置してなる照明部3の複数のそれぞれを、検査対象物のほぼ同一箇所に対して照射し、該照明部3の各発光体VL1が検査対象物を照射するそれぞれの位置と該別の照明部3の各発光体VR1が検査対象物を照射するそれぞれの位置とが照射する線状の発光体群の長手方向において異なるように複数の照明部3の各発光体VL1、VR1を配置したことを特徴とする。
Claim (excerpt)：
多数の発光体が線状に配置された線状光源の光照射側に集光手段を配置してなる照明部の複数のそれぞれを、検査対象物のほぼ同一箇所に対して照射し、該照明部の各発光体が検査対象物を照射するそれぞれの位置と該別の照明部の各発光体が検査対象物を照射するそれぞれの位置とが照射する線状の発光体群の長手方向において異なるように該複数の照明部の各発光体を配置したことを特徴とする検査用照明装置。
IPC (3)：
G01N 21/84 ,  G01B 11/30 ,  H05K 3/34 512
FI (3)：
G01N 21/84 E ,  G01B 11/30 Z ,  H05K 3/34 512 B
F-Term (36)：
2F065AA49 ,  2F065AA53 ,  2F065BB02 ,  2F065CC01 ,  2F065CC26 ,  2F065DD05 ,  2F065FF04 ,  2F065FF26 ,  2F065FF41 ,  2F065GG07 ,  2F065GG14 ,  2F065HH12 ,  2F065HH14 ,  2F065HH15 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ14 ,  2F065JJ25 ,  2F065LL00 ,  2F065LL02 ,  2F065LL08 ,  2F065QQ31 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2F065UU01 ,  2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051BA01 ,  2G051BA20 ,  2G051BB01 ,  2G051BB09 ,  2G051CB01 ,  2G051CB02 ,  5E319AC01 ,  5E319CC22 ,  5E319CD53 ,  5E319GG15
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
  • 特開平4-052876
  • パターン検査装置及び方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-168273   Applicant：富士通株式会社
  • 実装機の部品認識装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-322253   Applicant：ヤマハ発動機株式会社
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