Pat
J-GLOBAL ID:200903008352998369

複数枚の画像の各計測点の対応づけ方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 西脇 民雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996151221
Publication number (International publication number):1997329440
Application date: Jun. 12, 1996
Publication date: Dec. 22, 1997
Summary:
【要約】【課題】個人差による誤差を除去して計測精度の向上、計測処理の迅速化、容易化、自動化を図ることのできる複数枚の画像の各計測点の対応づけ方法を提供する。【解決手段】この複数枚の画像の各計測点の対応づけ方法は、計測対象物14に点在した大型マークK0と小型マークSKとを異なる方向から複数枚撮影し、大型マークK0の概略位置に基づき画像の切り出しを行い、この切り出した画像での小型マークSKを計測点とみなして、テンプレートマッチング法により各計測点の対応づけを自動的に行う。
Claim (excerpt):
計測対象物に点在した大型マークと小型マークとを異なる方向から複数枚撮影し、大型マークの概略位置に基づき画像の切り出しを行い、この切り出した画像での小型マークを計測点とみなして、テンプレートマッチング法により各計測点の対応づけを自動的に行う複数枚の画像の各計測点の対応づけ方法。
IPC (3):
G01C 11/04 ,  G01B 11/00 ,  G06T 7/00
FI (3):
G01C 11/04 ,  G01B 11/00 A ,  G06F 15/62 415
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
Show all
Cited by examiner (1)

Return to Previous Page