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J-GLOBAL ID：200903008759251845

光ファイバひずみ計測方法およびその装置

Inventor：
成瀬 央

About 成瀬 央

, 
立田 光廣

About 立田 光廣


Applicant, Patent owner：
日本電信電話株式会社

About 日本電信電話株式会社


Agent (1)： 谷 義一 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000123290
Publication number (International publication number)：2001304823
Application date： Apr. 24, 2000
Publication date： Oct. 31, 2001
Summary：
【要約】【課題】 ひずみ計測に最適な入射パルス光を用いて計測されたブリルアン散乱光のパワースペクトルに対して、ピークパワー周波数を精度良く決定すること。【解決手段】 変換ステップが、時間領域において電界包絡線が直線的に立上がった後に立下がる三角波振幅変調を行って連続した信号光をパルス光に変換する変換ステップであって、演算ステップが、光ファイバに沿った長さ方向の各計測点について、光周波数を変数としてブリルアン散乱光のパワーの計測値をソートする第1のステップと、計測されたパワーに含まれる計測誤差を、決定すべきパワースペクトルのピーク周波数、ピーク値、半値全幅を変数に含んだ形で記述し、全計測周波数についての計測誤差の2乗和が最小になる条件からピーク周波数を決定する第2のステップと、求めるべき長さ方向の全ての計測点についてピーク周波数を繰り返し決定する第3のステップとを有する。
Claim (excerpt)：
一定の光周波数の連続光を発生する発生ステップと、発生された連続光を信号光と参照光に分岐する分岐ステップと、連続した信号光をパルス光に変換する変換ステップと、パルス光を光ファイバに入射するとともに光ファイバで発生したブリルアン散乱光を出射する出射ステップと、出射されたブリルアン散乱光と信号光とを合波する合波ステップと、合波光を検出して電気信号に変換し、ブリルアン散乱光のパワーを計測してそのスペクトルを得る取得ステップと、得られたパワースペクトルからそのピーク周波数を演算処理して求める演算ステップとからなり、光ファイバに発生している長さ方向のひずみを求める光ファイバひずみ計測方法において、前記変換ステップが、時間領域において電界包絡線が直線的に立上がった後に立下がる三角波振幅変調を行って連続した信号光をパルス光に変換する変換ステップであって、前記演算ステップが、光ファイバに沿った長さ方向の各計測点について、光周波数を変数としてブリルアン散乱光のパワーの計測値をソートする第1のステップと、計測されたパワーに含まれる計測誤差を、決定すべきパワースペクトルのピーク周波数、ピーク値、半値全幅を変数に含んだ形で記述し、全計測周波数についての計測誤差の2乗和が最小になる条件からピーク周波数を決定する第2のステップと、求めるべき長さ方向の全ての計測点について前記ピーク周波数を繰り返し決定する第3のステップとを有することを特徴とする光ファイバひずみ計測方法。
IPC (2)：
G01B 11/16 ,  G01M 11/00
FI (2)：
G01B 11/16 Z ,  G01M 11/00 U
F-Term (9)：
2F065AA65 ,  2F065CC00 ,  2F065FF41 ,  2F065LL02 ,  2F065NN08 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ42 ,  2G086DD05
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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