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J-GLOBAL ID：200903082219165848

光ファイバひずみ計測方法及びその方法を実現するための記録媒体

Inventor：
成瀬 央

About 成瀬 央

, 
立田 光廣

About 立田 光廣


Applicant, Patent owner：
日本電信電話株式会社

About 日本電信電話株式会社


Agent (1)： 谷 義一 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999203809
Publication number (International publication number)：2001033218
Application date： Jul. 16, 1999
Publication date： Feb. 09, 2001
Summary：
【要約】【課題】 ブリルアン散乱光のパワースペクトルを求めてひずみの計測精度を向上させること。【解決手段】 入射光パルス幅を考慮して、ブリルアン散乱光のパワースペクトルを、決定すべきパワースペクトルのピーク周波数とピーク値と半値全幅とを変数に含んだ形で記録し、計測されたパワースペクトルをブリルアン散乱光のパワースペクトルに対して最小二乗法によるフィッティングを行い、決定すべきパワースペクトルのピーク周波数とピーク値と半値全幅とを決定し、ひずみを高精度に計測可能とする。
Claim (excerpt)：
センサとして用いる光ファイバに光パルスを入射し、該入射光パルスにより発生した後方散乱光の一つであるブリルアン散乱光のパワースペクトルを計測し、該パワースペクトルのピーク値と、該ピーク値を与えるピーク周波数と、半値全幅とを決定して、前記光ファイバに発生している長さ方向のひずみ分布を求める光ファイバひずみ計測方法において、前記光ファイバに沿った長さ方向の各計測点について、光周波数を変数としてブリルアン散乱光のパワーの計測値をソートする第1のステップと、前記入射光パルスの時間幅が短いときの入射光パワー分布を考慮したブリルアン散乱光のパワースペクトルを、決定すべきパワースペクトルのピーク周波数とピーク値と半値全幅とを変数に含んだ形で記述し、計測されたパワースペクトルを前記ブリルアン散乱光のパワースペクトルに対して最小二乗法によるフィッティングを行い、前記決定すべきパワースペクトルのピーク周波数とピーク値と半値全幅とを決定する第2のステップと、前記光ファイバの求めるべき長さ方向の全ての計測点について、前記第2のステップを繰り返して行う第3のステップと、からなることを特徴とする光ファイバひずみ計測方法。
IPC (2)：
G01B 11/16 ,  G01M 11/00
FI (2)：
G01B 11/16 Z ,  G01M 11/00 U
F-Term (19)：
2F065AA06 ,  2F065AA65 ,  2F065CC00 ,  2F065CC40 ,  2F065DD03 ,  2F065FF12 ,  2F065FF42 ,  2F065GG22 ,  2F065LL00 ,  2F065LL02 ,  2F065LL57 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ44 ,  2F065QQ45 ,  2F065UU05 ,  2G086CC02 ,  2G086DD05
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)

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