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J-GLOBAL ID：200903008820728110
屈折率測定方法及びその装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
福井 豊明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996218624
Publication number (International publication number)：1998062344
Application date： Aug. 20, 1996
Publication date： Mar. 06, 1998
Summary：
【要約】【課題】 全反射法による屈折率測定方法及びその装置に関し、特に、光源の光量変化の影響を受けることなく正確に被検物質の屈折率を測定で屈折率測定方法及びその装置に関する。【解決手段】 全反射法による屈折率測定方法において、プリズムの試料面上に被検物質と所定の屈折率を有する基準物質とを隣接して配置し、特定の光源より得られる基準物質よりの反射光に基づく受光量と上記特定の光源と同じ光源より得られる被検物質の臨界角点を含む領域よりの反射光に基づく受光量との比に基づいて屈折率を求めるようにする。これによって、光源の光強度が変化しても、基準物質よりの反射光と被検査物質よりの反射光のいずれもがリニアに変化するので、より精度の高い測定が可能となる。
Claim (excerpt)：
全反射法による屈折率測定方法において、プリズムの試料面上に被検物質と所定の屈折率を有する基準物質とを隣接して配置し、特定の光源より得られる基準物質よりの反射光に基づく受光量と上記特定の光源と同じ光源より得られる被検物質の臨界角点を含む領域よりの反射光に基づく受光量との比に基づいて屈折率を求めることを特徴とする屈折率測定方法。
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (9)
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