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J-GLOBAL ID：200903008940350723

偏波依存損失測定装置、偏波依存損失測定用光源装置及び偏波依存損失測定用受光装置

Inventor： 村上 知広 ,  女鹿田 直之
Applicant, Patent owner： サンテック株式会社
Agent (1)： 岡本 宜喜 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993230967
Publication number (International publication number)：1995063669
Application date： Aug. 23, 1993
Publication date： Mar. 10, 1995
Summary：

【要約】【目的】 種々の光ディバイスの光源の偏波に依存する損失を高速で高精度に測定できるようにすること。【構成】 光源1からの光を偏光子4によって直線偏光に変換する。この直線偏光された光をλ/2板5に入射する。λ/2板5は一定速度で回転させ、所定回転毎にλ/4板6をステップ的に回転させる。こうすれば光源の全ての偏光状態がλ/4板6の出射側に得られることとなる。この光信号を測定対象ディバイス8を介して光ディテクタ9により検出する。光ディテクタ9では平均レベルを直流成分として検出し、変化分を交流信号として強調して増幅する。こうすれば高感度で高精度にPDLが検出できることとなる。

Claim (excerpt)：

光学素子の光の偏波に依存する損失を検出する偏波依存損失測定装置であって、光源と、前記光源の光が入射され、入射光の偏波状態をポアンカレ球によって表現される大円上の軌跡に変換させる第1の偏波制御器と、前記第1の偏波制御器の光が入射され、該大円の角度を回転させることによってポアンカレ球の表面を被うように入射光の偏波面を制御する第2の偏波制御器と、前記第2の偏波制御器を通過した光を測定対象に入射し、測定対象を介して得られる光の強度を検出する光受光部と、前記第2の偏波制御器より出射される光の偏波状態がポアンカレ球上の大円を少なくとも1回転する毎に前記光受光部より得られる信号の直流レベル及び交流レベルを検出する光強度検出手段と、前記光強度検出手段により得られる信号の最大値及び最小値に基づいて偏波依存損失を演算する演算手段と、を具備することを特徴とする偏波依存損失測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平1-124813
  
• 偏光子の消光比測定方法及び測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-011896   Applicant：住友電気工業株式会社