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J-GLOBAL ID:200903009006583221

分光分析機構を有する原子間力顕微鏡

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 石田 敬 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997215007
Publication number (International publication number):1999051945
Application date: Aug. 08, 1997
Publication date: Feb. 26, 1999
Summary:
【要約】【課題】 本発明は、原子間力顕微鏡に関し、特にポリマー、塗膜等の微小表面に存在する特異部位を構成する官能基の同定を可能とする原子間力顕微鏡を提供する。【解決手段】 材料の特異部位を構成する官能基等を同定するための原子間力顕微鏡であって、前記原子間力顕微鏡の探針先端は、入射される光線の波長より小さく形成された孔を有するとともに、前記孔に赤外線を入射させることによりエバネッセント光を発生させる機構を有することを特徴とし、探針先端はエバネッセント光放出孔とともに、被検出物質から反射されたエバネッセント光を採り入れるエバネッセント光採り入れ孔を有することを特徴とし、また赤外線の代わりに可視光レーザーを用い、さらに赤外線または可視光レーザは探針位置制御用光線を兼ねることを特徴とする。
Claim (excerpt):
材料の特異部位を構成する官能基等を同定するための原子間力顕微鏡であって、該原子間力顕微鏡の探針先端は、入射される光線の波長より小さく形成された孔を有するとともに、該孔に赤外線を入射させることによりエバネッセント光を発生させる機構を有することを特徴とする分光分析機構を有する原子間力顕微鏡。
IPC (4):
G01N 37/00 ,  G01B 11/30 ,  G01B 21/30 ,  G01N 21/27
FI (5):
G01N 37/00 F ,  G01N 37/00 D ,  G01B 11/30 Z ,  G01B 21/30 Z ,  G01N 21/27 C
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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