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J-GLOBAL ID:200903009140119043

熱特性改善電子装置及びそのアセンブリ方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 上野 英夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996012078
Publication number (International publication number):1996250822
Application date: Jan. 26, 1996
Publication date: Sep. 27, 1996
Summary:
【要約】【課題】少なくとも2つのデバイスが、一般的な熱伝導基板に取り付けられているシステムの場合に、少なくともデバイスの1つによる少なくとももう1つのデバイスに対する熱的影響を軽減する。複雑でなく、コスト的に有効なやり方で熱的影響を軽減する。【解決手段】発熱性デバイス102の3つの側面に沿って基板104を完全に通る開口部200(細長いスリット)を形成する。感熱性デバイス100への熱伝導経路202及び204を長くする。
Claim (excerpt):
基板に取り付けられた第1と第2のデバイスと、第1と第2のデバイスの間に存在する最短の直線を有する電子装置において、前記第1のデバイスは温度変化に感応し、前記第2のデバイスは前記第1のデバイスの温度を変動させることが可能であるとき、前記最短の直線に沿う熱伝導を遮断する、前記基板を貫通する開口部を有することを特徴とする電子装置。
IPC (2):
H05K 1/02 ,  H05K 1/18
FI (2):
H05K 1/02 C ,  H05K 1/18 S
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 特開昭58-017664
  • 金属ベース基板
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-273255   Applicant:株式会社日本理化工業所
  • 特開昭58-017664

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