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J-GLOBAL ID:200903009380512400
対象核種の濃度測定方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
播磨 祐之
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997338175
Publication number (International publication number):1999153671
Application date: Nov. 21, 1997
Publication date: Jun. 08, 1999
Summary:
【要約】【課題】 例えば原子力発電設備における一次冷却材中のよう素 131I(364keV)の濃度測定において、よう素のみの濃度を信頼性高く把握でき、統計的誤差の小さい適正な測定時間を自動的に決定できると共に、よう素濃度の実際の急激な上昇をも迅速に把握できる測定法の提供。【解決手段】 測定によって例えば1時間単位で得たスペクトルSP1 ,SP2,...,SPk の群をもとに、SPk からさかのぼって積算した積算スペクトルから対象ピークのS/N値をスペクトル解析により算出し、これがピーク判定基準のS/N値を超えたか否かを判断し、超えない場合は次の回の積算を行ってこの判断を繰り返し、超えた場合はその積算スペクトルからよう素濃度を求める。
Claim (excerpt):
所定時間単位で放射線スペクトルを連続的に測定、取得していき、得られた複数の測定スペクトルSP1 ,SP2 ,...,SPk (SPk は現時点から時間的に最も近い測定スペクトル)の群を用い、該測定スペクトル群を測定スペクトルSPk からさかのぼって積算していくに際し、積算前の積算スペクトルΣSPi (iはkからk-mまで、mは積算数、mの初期値は0)から対象ピークのS/N値(N=√B、Sは対象核種の正味計数値、Bはバックグラウンドの計数値)をスペクトル解析により算出し、このS/N値が、予め定めたピーク判定基準のS/N値を超えたか否かを判断し、超えない場合は次の回の積算を行って更にこの判断を繰り返していき、超えた場合はその積算スペクトルΣSPi から対象核種の濃度を求めることを特徴とする対象核種の濃度の測定方法。
IPC (2):
FI (2):
G01T 1/167 C
, G01T 1/36 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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連続核種モニタ用放射線測定方法およびその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-161669
Applicant:株式会社東芝
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エネルギスペクトル測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-221684
Applicant:株式会社島津製作所
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放射能測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-247533
Applicant:株式会社日立製作所
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