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J-GLOBAL ID：200903010182153894

白色校正方法及び2次元測光装置

Inventor： 森川 収 ,  門脇 豊 ,  松本 純 ,  山本 信次
Applicant, Patent owner： コニカミノルタセンシング株式会社
Agent (3)： 小谷 悦司 ,  植木 久一 ,  伊藤 孝夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003435560
Publication number (International publication number)：2005195365
Application date： Dec. 26, 2003
Publication date： Jul. 21, 2005
Summary：

【課題】 同一測光器の画素間の各種ムラに起因する誤差を抑えることができる白色校正方法及び2次元測光装置を提供する。【解決手段】 白色校正板測定部211は、白色校正板の異なる位置を、2次元エリアセンサ4により少なくとも2回以上測定し、平均値算出部212は、測定された各回の測定結果から白色校正板の欠陥に起因する出力値を示す画素データを除去し、除去された測定結果から各画素毎の平均値を算出し、メーカ校正値算出部215は、各画素毎の平均値に基づいて、画素全体に対する各画素毎のメーカ校正値を算出し、白色校正板測定部211は、白色校正板を2次元エリアセンサ4により1回だけ測定し、ユーザ校正値算出部216は、測定された測定結果からユーザ校正値を算出し、白色校正係数算出部217は、メーカ校正値とユーザ校正値とに基づいて、各画素毎の白色校正係数を算出する。【選択図】 図11

Claim (excerpt)：

校正の基準となる白色校正板の異なる位置を、2次元エリアセンサにより少なくとも2回以上測定する測定ステップと、 前記測定ステップにおいて測定された各回の測定結果から白色校正板の欠陥に起因する出力値を示す画素データを除去する除去ステップと、 前記除去ステップにおいて白色校正板の欠陥に起因する出力値を示す画素データが除去された測定結果から各画素毎の平均値を算出する画素平均算出ステップと、 前記画素平均算出ステップにおいて算出された各画素毎の平均値に基づいて、画素全体に対する各画素毎の白色校正値を算出する白色校正値算出ステップとを含むことを特徴とする白色校正方法。

IPC (2)：

G01J3/02 ,  G01J3/50

FI (2)：

G01J3/02 C ,  G01J3/50

F-Term (4)：

2G020AA08 ,  2G020DA05 ,  2G020DA14 ,  2G020DA34

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 測色装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-060949   Applicant：ミノルタ株式会社
• 色の測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-119531   Applicant：日産自動車株式会社

Cited by examiner (4)

• 画像読取装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-158079   Applicant：富士ゼロックス株式会社
• 画像入力装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-058398   Applicant：富士ゼロックス株式会社
• 特開昭63-305224
  
• 画像読取装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-200515   Applicant：コニカ株式会社